
~ Chiplet, 3D Fan-Out, Si/Organic interposer, Si bridge, Glass packaging, CPO ~
※本セミナーはZOOMを使ったLIVE配信セミナーです。会場での参加はございません。
セミナー趣旨
HBM支配の続く先端AI/HPCデバイスのシステムレベル性能向上は先進パッケージの高品位化開発に支えられています。一方、UCIe標準規格に準拠する先端ノード、非先端ノードのSiデバイスのMix & Matchによる多様な産業用途向けのSoC製品を効率的に創出するために、Chiplet integrationのエコシステムの早期確立が期待されています。半導体パッケージの役割が急峻に変質する状況において、一部のバズワードの流布に煽られることなく地道な開発を継続するために、本セミナーでは三次元集積化へ進展した半導体パッケージ開発経緯の整理、TSV積層、Hybrid bonding積層、3D Fan-Out packagingを構成する基幹プロセスの基礎の再訪を中心に、PLP、Glass packaging、Co-Packaged Opticsへ深化を続ける先進パッケージの動向に言及します。
セミナープログラム
1.最近の先進半導体デバイスパッケージ
1-1 Siデバイス性能の向上
1-2 システムレベル性能の向上
2.後工程の高品位化と中間領域技術の進展
3.三次元集積化プロセスの基礎
3-1 TSV再訪 (HBMからBSPDNへ)
3-2 Wafer level Hybrid Bonding (CIS, NAND)
3-3 CoW Hybrid Bonding (異種チップ積層)
3-4 Logic-on-memory積層SoC再訪
(広帯域メモリ, 再配線, マイクロバンプ, マスリフロー積層導入の原点)
3-5 Siインターポーザーの導入から有機インターポーザーへ
3-6 Siブリッジの導入から Chiplet集積へ
(マスクレス露光によるレテイクルサイズ制約からの解放)
3-7 再配線の微細化と多層化(SAP延命とダマシンプロセスの導入)
4.Fan-Out(FO)型パッケージプロセスの基礎
4-1 FOWLPの市場浸透(パワーデバイスのFO化)
4-2 FOプロセス, 封止材料の選択肢拡大
4-3 三次元集積プロセスの選択肢拡大(メモリパッケージのFO化)
4-4 PLP高品位化の課題
5.GlassパッケージとCo-Packaged Optics(CPO)の開発動向
5-1 Glass基板導入の動機
5-2 レーザーによるTGV形成の課題
5-3 Cu埋め込み, 再配線形成の課題
(ガラス基板表面と配線層の密着性向上)
5-4 信頼性の課題
5-5 CPO導入の動機
5-6 ファイバー接続の課題
5-7 GlassパッケージとCPOの親和性
6.市場動向と今後の開発動向
キーワード:
半導体,半導体パッケージ,LSI,IoT,,WEBセミナー,オンライン
セミナー講師
神奈川工科大学 工学部
電気電子情報工学科 非常勤講師 博士 (工学) 江澤 弘和 氏
【略歴】
1985年 京都大学 修士 (金属磁性) 修了
1985年 株式会社 東芝に入社。半導体材料技術部におけるSiウエーハの高品位化業務
1987年からLSIプロセス開発部門において、スパッタ、メタルCVD、微細めっき等の金属成膜技術を中心に、先端デバイスの微細化プロセス開発に従事。並行して、Bump形成、Low – k CPI低減、再配線形成、TSV等の中間領域の技術開発を推進。
2011年 株式会社 東芝 メモリ事業部 プロセス技術開発主幹。TSV、FOWLP等の中間領域プロセスによるフラッシュメモリ製品開発に従事。
2015年 早稲田大学 大学院 情報生産システム研究科 先進材料研究室 博士後期課程修了、博士 (工学) 取得
2017年 メモリ事業分社化に伴い東芝メモリ株式会社(現・キオクシア株式会社) に移籍。プロセス技術開発主幹
2018年4月より 神奈川工科大学 非常勤講師 (電気電子材料担当)
2019年9月 東芝メモリ株式会社 定年退職
セミナー受講料
49,500円(税込、資料付)
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受講料
49,500円(税込)/人
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