専門家「福﨑 昌宏」プロフィール
XRDの相対強度、構造因子:金属材料基礎講座(その132)
【目次】 1. XRDの相対強度 XRDにおいて回折パターンの相対強度におよぼす影響は、次の6項目があります。 ...
【目次】 1. XRDの相対強度 XRDにおいて回折パターンの相対強度におよぼす影響は、次の6項目があります。 ...
ブラッグの式とミラー指数、X線回折:金属材料基礎講座(その131)
【目次】 1. ブラッグの式とミラー指数 X線回折(XRD:X-ray Diffraction)はX線が結晶体で起...
【目次】 1. ブラッグの式とミラー指数 X線回折(XRD:X-ray Diffraction)はX線が結晶体で起...
X線とブラッグの式:金属材料基礎講座(その130) X線と金属材料
金属材料の分析においてX線は非常に重要です。X線の持つ様々な特性によって金属材料の成分分析や結晶構造解析に役立っています。 &nbs...
金属材料の分析においてX線は非常に重要です。X線の持つ様々な特性によって金属材料の成分分析や結晶構造解析に役立っています。 &nbs...
格子定数と結晶構造、EBSD測定:金属材料基礎講座(その129)
【目次】 1. 格子定数と結晶構造 試料表面から得られた回折パターンのバンド幅が格子定数と関係しています。格子定数は金属ごとに異な...
【目次】 1. 格子定数と結晶構造 試料表面から得られた回折パターンのバンド幅が格子定数と関係しています。格子定数は金属ごとに異な...
ハフ変換法、CI(信頼性指数):金属材料基礎講座(その128)
【目次】 1. ハフ変換法 EBSDにて取り込んだパターンを認識するための方法としてハフ変換法が良く用いられます。...
【目次】 1. ハフ変換法 EBSDにて取り込んだパターンを認識するための方法としてハフ変換法が良く用いられます。...
EBSD(電子線後方散乱回折法)とは:金属材料基礎講座(その127)
◆ EBSDとは EBSDとはElectron Back-Scatter Diffraction(電子線後方散乱回折法)の略です。S...
◆ EBSDとは EBSDとはElectron Back-Scatter Diffraction(電子線後方散乱回折法)の略です。S...
EDSとWDSの分析項目:金属材料基礎講座(その126)
◆ EDSとWDSの分析項目 EDSとWDSは測定精度の差はありますが分析項目は共通しています。それは定性分析、線分析、面分析、定量...
◆ EDSとWDSの分析項目 EDSとWDSは測定精度の差はありますが分析項目は共通しています。それは定性分析、線分析、面分析、定量...
EDSとWDS:金属材料基礎講座(その125) SEMの元素分析器とは
【目次】 1. EDSとWDS SEMの元素分析器としてEDS(Energy Dispersive X-ray S...
【目次】 1. EDSとWDS SEMの元素分析器としてEDS(Energy Dispersive X-ray S...
フォーカスとスティグマ調整、SEM観察の試料調整:金属材料基礎講座(その124)
【目次】 1. フォーカスとスティグマ調整 SEM観察におけるフォーカス合わせとスティグマ調整について、ピントの合ったSEM像とピ...
【目次】 1. フォーカスとスティグマ調整 SEM観察におけるフォーカス合わせとスティグマ調整について、ピントの合ったSEM像とピ...
SEM像のピント合わせ:金属材料基礎講座(その123)
◆ SEM像のピント合わせ SEM観察において鮮明で良いSEM像を得るために設定する項目が多...
◆ SEM像のピント合わせ SEM観察において鮮明で良いSEM像を得るために設定する項目が多...
電子線から得られる信号とは:金属材料基礎講座(その122)
◆ 電子線から得られる信号 試料に電子線を照射すると様々な情報が得られます。その模式図と各信号を下図に示します。SEM観察に主に利用...
◆ 電子線から得られる信号 試料に電子線を照射すると様々な情報が得られます。その模式図と各信号を下図に示します。SEM観察に主に利用...
コンデンサレンズと対物レンズ:金属材料基礎講座(その121)
【目次】 1. コンデンサレンズ(集束レンズ) コンデンサレンズ(集束レンズ)はプローブ電流とプローブ径を調整するレンズです。そし...
【目次】 1. コンデンサレンズ(集束レンズ) コンデンサレンズ(集束レンズ)はプローブ電流とプローブ径を調整するレンズです。そし...