「MTシステム」とは

MTシステムは、品質工学の長い歴史の中で最も新しい分野で、まだ十分に普及したとは言い難い状態です。 その中身も、マハラノビスの距離を使って標準グループとの遊離度を1変数に集約して判定するMT法、その多重共線問題を解決するために編み出されたMTA/MTS法、多変量のSN比と感度を使って目的特性を予測するT法と矢継ぎ早に提案されたため、分かりにくい点がありました。 画像処理等膨大なデータの判定にも有効ですが、パラメータ設計の実験前に既存のデータから有効な因子に「あたり」をつける時など、威力を発揮します。

◆MTシステム入門 【連載記事紹介】

◆品質工学関連のセミナー紹介

 


「MTシステム」のキーワード解説記事

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MTシステム入門 【連載記事紹介】

  ◆【特集】 連載記事紹介:連載記事のタイトルをまとめて紹介、各タイトルから詳細解説に直リンク!!   MTシステム入門の...

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MTAでのキーワード「余因子」について Ⅲ

 今回は、いよいよMTA法で使われる余因子の基本「なぜ余因子行列を使うのか?」から説明します。相関行列を使ったマハラノビス距離から、MTA法の話に戻っ...

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MTAと余因子 Ⅱ

   今回は、MT法やMTA法で使われるマハラノビス距離の話をおさらいします。余因子の話からは一旦離れますが、次回また扱います。 1.M...

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「MTシステム」の活用事例

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イプシロンロケットとMTシステム

1.イプシロンロケット打上げ成功とMTシステム  先月9月14日午後2時に、JAXAのイプシロンロケットが無事打上げに成功しました。成否を左右する「ロケ...

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T法によって拡張されたパラメータ・スタディー

 これは2012年の品質工学研究発表大会で、リコーの細川哲夫さんが発表した「T法によって拡張されたパラメータ・スタディー」を、ご本人の承諾を得て要約掲載し...

 これは2012年の品質工学研究発表大会で、リコーの細川哲夫さんが発表した「T法によって拡張されたパラメータ・スタディー」を、ご本人の承諾を得て要約掲載し...


半導体製造プロセスにおけるパラメータ設計とT法の併用による超効率的条件最適化

これは2010年の品質工学研究発表大会で、東芝の岡川宏之さんが発表した「半導体製造プロセスにおけるT法活用による超効率的プロセス条件最適化」を要約したもの...

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