異物分析の基礎と測定・解析の事例【大阪開催】

 サンプリング手法および異物分析の主要な分析機器
 (顕微FT-IR、SEM-EDX)について原理・分析/解析の
   テクニックを事例を交えて解説!


講師


三菱ケミカル(株) 技術部 熊本工場 品質保証部 西村 和哉 

ご専門
 分析化学

ご略歴】 
 1983年 宇都宮大学 工学部 環境化学科 卒業
 1983年 進工業(株) 入社 電気抵抗材料の開発、分析業務(全般、不良解析)
 1996年 日本合成化学工業(株) 入社 
                分析業務(合成樹脂の構造解析、異物分析等)物性分析センター長(2012年)
 2016年 (株)大阪環境技術センター 出向
 2018年 日本合成化学工業(株) 復帰、熊本工場 品質保証部
 2019年 三菱ケミカル(株)と日本合成化学工業(株)の合併により現職


受講料


 49,500円(税込、資料付)

■ セミナー主催者からの会員登録をしていただいた場合、1名で申込の場合46,200円、
  2名同時申込の場合計49,500円(2人目無料:1名あたり24,750円)で受講できます。
  備考欄に「会員登録希望」と希望の案内方法【メールまたは郵送】を記入ください。
  (セミナーのお申し込みと同時に会員登録をさせていただきますので、
   今回の受講料から会員価格を適用いたします。)
※ 会員登録とは
  ご登録いただきますと、セミナーや書籍などの商品をご案内させていただきます。
  すべて無料で年会費・更新料・登録費は一切掛かりません。


習得できる知識


・異物のサンプリング
・異物分析に役立つ分析機器
・顕微FT-IRの原理、分析/解析のテクニック
・SEM-EDX(EDS)の原理、分析/解析のテクニック
・異物の構成物質の推定手法 


趣旨


 「製品中に異物が混入する」という事態は、大きなクレームに発展する。
いち早く異物の構成物質を推定すれば、異物の発生場所の特定・対策が素早く実施でき、
被害を小さく食い止めることができる。
 本講では、異物がどのような物質で構成されているかを明らかにするための
基礎的知識の習得、およびその応用例となる事例紹介を行う。
 基礎知識については、サンプリング手法および異物分析の主要な分析機器
(顕微FT-IR、SEM-EDX)について原理・分析/解析のテクニックを、注意点等を交えて
学んでいただく。測定・解析の事例では、いくつかの例から「異物の構成物質の推定手法」を
紹介する。


プログラム


1.異物分析とは?
  1-1.異物分析の目的
  1-2.異物分析の流れ

2.サンプリング
  2-1.実体顕微鏡による方法
  2-2.マイクロマニピュレータによる方法
  2-3.ミクロトームによる方法

3.分析、解析
  3-1.顕微FT-IR(フーリエ変換型赤外分光光度計)
     ・原理、分析テクニック、解析テクニック、最新機器の特徴
  3-2.SEM-EDX(走査電子顕微鏡-エネルギー分散型X線分析)
     ・原理、分析テクニック、解析テクニック、最新機器の特徴
  3-3.その他の役立つ分析機器

4.異物の構成物質の推定から異物対策へ
  4-1.分析/解析結果の統合 → 異物の構成物質の推定
  4-2.製造現場や保全部門との連携 → 異物発生場所の特定
  4-3.異物対策へ

5.事例紹介
  ・おもに顕微FT-IRおよびSEM-EDXを活用した「異物の構成物質の推定」の事例を、
   4~5例紹介の予定