異物分析の基礎と測定・解析の事例【大阪開催】

　サンプリング手法および異物分析の主要な分析機器
 （顕微FT-IR、SEM-EDX）について原理・分析／解析の
   テクニックを事例を交えて解説！

講師

三菱ケミカル（株）　技術部　熊本工場　品質保証部　西村 和哉 氏

【ご専門】
　分析化学

【ご略歴】 
　1983年　宇都宮大学 工学部 環境化学科 卒業
　1983年　進工業（株） 入社　電気抵抗材料の開発、分析業務（全般、不良解析）
　1996年　日本合成化学工業（株） 入社　
                分析業務（合成樹脂の構造解析、異物分析等）物性分析センター長（2012年）
　2016年　（株）大阪環境技術センター 出向
　2018年　日本合成化学工業（株） 復帰、熊本工場　品質保証部
　2019年　三菱ケミカル（株）と日本合成化学工業（株）の合併により現職

受講料

　49,500円（税込、資料付）

■ セミナー主催者からの会員登録をしていただいた場合、1名で申込の場合46,200円、
　 2名同時申込の場合計49,500円（2人目無料：1名あたり24,750円）で受講できます。
　 備考欄に「会員登録希望」と希望の案内方法【メールまたは郵送】を記入ください。
  （セミナーのお申し込みと同時に会員登録をさせていただきますので、
　  今回の受講料から会員価格を適用いたします。）
※ 会員登録とは
　 ご登録いただきますと、セミナーや書籍などの商品をご案内させていただきます。
　 すべて無料で年会費・更新料・登録費は一切掛かりません。

習得できる知識

・異物のサンプリング
・異物分析に役立つ分析機器
・顕微FT-IRの原理、分析／解析のテクニック
・SEM-EDX（EDS）の原理、分析／解析のテクニック
・異物の構成物質の推定手法　

趣旨

　「製品中に異物が混入する」という事態は、大きなクレームに発展する。
いち早く異物の構成物質を推定すれば、異物の発生場所の特定・対策が素早く実施でき、
被害を小さく食い止めることができる。
　本講では、異物がどのような物質で構成されているかを明らかにするための
基礎的知識の習得、およびその応用例となる事例紹介を行う。
　基礎知識については、サンプリング手法および異物分析の主要な分析機器
（顕微FT-IR、SEM-EDX）について原理・分析／解析のテクニックを、注意点等を交えて
学んでいただく。測定・解析の事例では、いくつかの例から「異物の構成物質の推定手法」を
紹介する。

プログラム

１．異物分析とは？
　　1-1．異物分析の目的
　　1-2．異物分析の流れ

２．サンプリング
　　2-1．実体顕微鏡による方法
　　2-2．マイクロマニピュレータによる方法
　　2-3．ミクロトームによる方法

３．分析、解析
　　3-1．顕微FT-IR（フーリエ変換型赤外分光光度計）
　　　　　・原理、分析テクニック、解析テクニック、最新機器の特徴
　　3-2．SEM-EDX（走査電子顕微鏡-エネルギー分散型Ｘ線分析）
　　　　　・原理、分析テクニック、解析テクニック、最新機器の特徴
　　3-3．その他の役立つ分析機器

４．異物の構成物質の推定から異物対策へ
　　4-1．分析／解析結果の統合 → 異物の構成物質の推定
　　4-2．製造現場や保全部門との連携 → 異物発生場所の特定
　　4-3．異物対策へ

５．事例紹介
　　・おもに顕微FT-IRおよびSEM-EDXを活用した「異物の構成物質の推定」の事例を、
　　　4～5例紹介の予定