⭐X線・電子・イオンの特性とそれらがサンプル表面と相互作用する仕組みを基礎から解説します。
⭐代表的な表面分析手法の原理や分析例、応用としてマッピングや深さ分析についても紹介します。 

※本セミナーはZOOMを使ったLIVE配信セミナーです。会場での参加はございません。
【アーカイブ配信:9/29~10/10(何度でも受講可能)】での受講もお選びいただけます。 

【項目】※クリックするとその項目に飛ぶことができます

    セミナー趣旨

    表面分析装置には先端技術の粋が集められています。分析の対象は、半導体素子、金属製品、医薬品、等幅広く、その目的もプロセス開発、品質管理、現象把握(例えば、腐食、汚染、偏析)、等多岐にわたっています。また、分析のスケールがナノオーダーになることも珍しくなく、その精度は人間の感覚を遙かに超えています。
    特に近年の表面分析装置はユーザーフレンドリーであり、比較的容易に相応の結果を得ることができます。その反面、いわゆるブラックボックス化が進んでいるため、結果の適切な解釈にあたっては、分析・装置の両面について深い理解が求められます。そこで本セミナーでは、基礎事項として、サンプル表面に入射するX線、電子、イオンの特徴、これらと表面との相互作用、出力に至るまでの信号の流れ、等を分かり易く解説します。また、代表的な表面分析の原理や分析結果の例を紹介します。加えて、表面分析の応用として、マッピング、深さ分析について説明します。

    受講対象・レベル

    ・表面分析に携わる予定または携わって間もない方(目安:1年以内)。
    ・既に表面分析の経験はあるが、今後、新しい表面分析に携わる予定の方(または新しい表面分析に携わって間もない方(目安:1年以内))。
    ・表面分析全般について理解したい方。
    ・各表面分析の特徴を把握したい方。
    ・表面分析装置の仕組みに関心がある方。

    必要な予備知識

    基礎から解説いたしますが、高校の数学、物理、化学の知識はあった方が望ましいです。

    習得できる知識

    ・X線、電子、イオンの特徴とこれらと表面の相互作用を理解できる。
    ・SEM-EDS、AFM、XPS、SIMS、等、代表的な表面分析法の基礎・原理を理解できる。
    ・分析装置の一般的な仕組みを理解できる。
    ・各表面分析の相対的な位置づけが理解できる。
    ・憑依面分析の結果を適切に解釈できるようになる。

    セミナープログラム

    1. 表面分析の概要
     1-1. はじめに
     1-2. 代表的なフロー

    2. 表面分析の構成要素
     2-1. 入射
     (1)X線
     (2)電子
     (3)イオン

     2-2. 相互作用
     (1)X線と表面の相互作用
     (2)電子と表面の相互作用
     (3)イオンと表面の相互作用

     2-3. 認識
     (1)検出器
     (2)表示

     2-4. その他
     (1)真空
     (2)試料ステージ
     
    3. 表面形状観察
     3-1. 光学顕微鏡
     3-2. SEM
     3-3. レーザー顕微鏡
     3-4. SPM

    4. 表面元素等分析
     4-1. XRF
     4-2. XPS
     4-3. AES
     4-4. S-SIMS

    5. 表面分析の応用
     5-1. マッピング
     (1)SEM-EDS
     (2)EPMA
     (3)AES
     (4)S-SIMS
     (5)XRF
     (6)XPS

     5-2. 深さ分析
     (1)D-DIMS
     (2)スパッタリングの併用
     (3)RBS

    6. 補足

    7. まとめ


    キーワード:
    表面分析,機器分析,XPS,FT-IR,X線,講演,セミナー,研修

    セミナー講師

    合同会社 I・R・D CEO 博士(理学) 古田 啓 氏

    【専門】
    表面処理、経営管理、知財管理
    【略歴】
    30年以上にわたり、複数の民間企業において、非破壊検査、薄膜形成、等様々な研究開発・技術開発を担当。また、市場調査をふまえた新技術の開発、上市、生産部門への技術移管、技術支援、知財管理、営業支援、等に従事。
    2024年1月、技術、経営、知財を総合的に支援するコンサルティングファーム:合同会社I・R・D(URL https://i-reseandev.co.jp/)を設立、現在に至る。中小企業診断士、第1種放射線取扱主任者、1級知的財産管理技能士(特許、ブランド)。

    セミナー受講料

    55,000円(税込、資料付)
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     ★2名同時申込で両名とも会員登録をしていただいた場合、計55,000円(2人目無料)です。

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    分析化学   薄膜、表面、界面技術   計測工学

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