【中止】加速寿命試験と寿命データ解析【PC演習付き】

セミナー趣旨

　本セミナーでは、寿命評価技術の基本である加速寿命試験法とその結果としての寿命データの解析法について解説し演習する。
　信頼性試験では加速寿命試験は必須である。加速寿命試験では対象や目的ごとに加速手段は異なるが、基本的には温度、電圧・電界、電流（密度）、湿度、熱・機械的ストレス、などによる加速が行われる。
　まず、加速寿命試験と加速寿命データ解析の基礎を講義する。その後、加速寿命試験の結果得られる寿命データの解析の仕方をワイブル解析と対数正規解析に的を絞って講義し、演習する。また、解析結果を元にした信頼性予測法を解説し、演習する。
　実際にExcelを用いてワイブル解析と対数正規解析そして、その解析結果を用いた信頼性予測ができるところまで解説し演習する。
　応用編として、確率プロットが直線にのらない場合の対処法と解析の実態を紹介する。
　受講者自身がデータを持参すると演習中にそのデータを解析することもできる。
　理解が不十分でも解析できるように、Excelのテンプレートも提供する。
　Excelテンプレートと演習中に作成したファイルは持ち帰って、有効に活用できる。

受講対象・レベル

・電子部品、半導体デバイスの信頼性担当者
・寿命加速試験や信頼性予測に関連した業務に携わる技術者、研究者
・ワイブル解析や対数正規解析の基礎を習得したい人

必要な予備知識

特に無いが、基本的な統計の概念を理解していることが望ましい。
また、Excelの基本操作を習得していることが望ましい。

習得できる知識

・加速寿命試験、寿命データ解析の基礎が理解できる
・寿命データが通常のデータとどこが違うのかが理解できる。
・寿命データ解析法の基礎が修得できる。
・信頼性予測法の基礎が修得できる。
・寿命データを解析できるようになる。
・信頼性予測ができるようになる。

セミナープログラム

1．加速寿命試験の基礎
2．加速寿命データ解析に必要な基礎的事項
　(1) バスタブカーブ
　(2) 寿命データの種類、解析の目的、解析法の種類
　(3) 寿命データ解析に必要な確率・統計の基礎的概念・用語　
3．寿命データ解析の基礎
　(1) 寿命データ解析の位置付けと本講義で扱う範囲
　(2) 寿命データ解析と信頼性予測に必要な寿命分布
　(3) 寿命データ解析法
　(4) 信頼性予測法
4．Microsoft Excelを使った寿命データ解析と信頼性予測
　(1) Excelによるワイブルプロットと対数正規プロットの手順
　(2) Excelによる累積ハザード解析の手順
　(3) Excelによる信頼性予測
5．応用編
　(1) 確率プロットで直線にならない場合の対処法
　(2) IRPS (信頼性物理国際会議) にみる寿命データ解析の使われ方
6．演習
　・Excelを使った寿命データ解析（ワイブル解析、対数正規解析）と信頼性予測

■講演中のキーワード：
　信頼性試験、信頼性データ解析、加速寿命試験、寿命データ解析、ワイブル解析、対数正規解析、Excelを用いた解析

セミナー講師

デバイス評価技術研究所　代表　二川　清　先生
■ 略歴：
　　1972年　大阪大学 基礎工学部 物性物理工学科 卒業
　　1974年　大阪大学 大学院基礎工学研究科　物理系物性学専攻 修士課程 修了
　　1974年　日本電気（株）（NEC）入社。スパコン、メインフレーム用LSIなどの信頼性技術を担当
　　1992年　同社　主管研究員。故障解析技術の研究開発
　　1995年　論文提出により工学博士（大阪大学）
　　2001年〜2018年　大阪大学大学院工学研究科、情報科学研究科にて非常勤講師、特別講師など
　　2002年11月　NECエレクトロニクス（株）がNECから分社
　　2005年　NECエレクトロニクス（株）シニアプロフェッショナル
　　2007年〜2018年　金沢工業大学大学院　客員教授
　　2008年〜2019年　芝浦工業大学　非常勤講師
　　2009年　NECエレクトロニクス（株）定年退職
　　2010年〜2012年　大阪大学大学院　特任教授
　　2013年〜現在　日本学術振興会167委員会顧問

　この間、日本信頼性学会（REAJ）副会長、REAJ-LSI故障解析研究会リーダー、　電子情報技術産業協会（JEITA）半導体ロードマップ委員会（STRJ）故障解析技術TF（後、SWG）リーダー、JEITA信頼性委員会故障解析WGリーダー、東京理科大学非常勤講師、NEC社内研修所（後、ユニバーシティー）講師、日本科学技術連盟（日科技連）講師、日科技連信頼性・保全性シンポジウム組織委員、LSI（現、ナノ）テスティングシンポジウム企画運営委員など
■専門および得意な分野・研究：
　信頼性工学、信頼性物理、半導体の信頼性試験・故障解析
■本テーマ関連学協会での活動：
　日科技連

セミナー受講料

1名47,300円(税込（消費税10％）、資料・昼食付)
　＊1社2名以上同時申込の場合、1名につき36,300円
   ＊学校法人割引；学生、教員のご参加は受講料50％割引。
■受講者の方へ：演習用PCご持参のお願い
　・本セミナーでは、Microsoft Excelを使用した演習を行います。
　　ExcelがインストールされたWindowsかMacのPCをご持参下さい。
　・ご持参が難しい場合は、お申込み時に選択欄から『PC貸出』を選択ください。
　　7,000円＋税　にて貸出致します。
　・PCの貸出は原則として1週間前までにお申し出ください。