電子機器の故障メカニズムと未然防止・故障解析のポイント＜実際の市場故障をもとに考える＞

セミナー趣旨

受講対象・レベル

対象を初級者としてわかりやすく説明するが、中級以上の技術者には故障問題の現状や幅広い情報があり、有効なセミナーであると考えられる。

習得できる知識

本講演は講師が様々な技術者との議論や情報交換により、多くの人が感じている故障問題をもとにまとめたもので、電子部品、電子機器の品質に関する技術者が必要とする知識や情報が網羅されている。

セミナープログラム

セミナー講師

故障物性ソリューション　味岡 恒夫　先生

＜主なご経歴＞
沖電気工業にてLSIプロセス開発、LSIに係る物性研究
沖エンジニアリングにて、信頼性評価技術統括およびLSIプロセス診断（LSIの良品解析）開発、ロックイン発熱解析応用技術開発
NTTエレクトロニクスにて、故障解析受託サービス
東レリサーチセンターにて受託分析（いずれも顧客相談窓口）
【兼務】日本信頼性学会故障物性研究会 副主査

＜ご専門＞
故障物性（モデル、メカニズム）、半導体プロセス、信頼性評価、故障解析、材料分析

セミナー受講料

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　　※他の割引は併用できません。

＜1名分無料適用条件＞
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※同一法人内(グループ会社でも可)による2名同時申込みのみ適用いたします。
※3名様以上のお申込みの場合、１名あたり定価半額で追加受講できます。
※請求書（クレジットカード決済の場合は領収書）は、代表者にS&T会員マイページにて発行いたします（PDF）。
※請求書および領収証は1名様ごとに発行可能です。
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※他の割引は併用できません。

受講について

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（備考）※講義中の録音・撮影はご遠慮ください。
　　　　※開催日の概ね1週間前を目安に、最少催行人数に達していない場合、セミナーを中止することがございます。