半導体テスト技術の基礎と動向
品質、信頼性、セキュリティ、コスト、歩留まり etc.
生成AI時代の半導体・電子機器を支える基盤技術を学ぶ
── 半導体技術の進化・複雑化によりその重要性を増すテストを学ぶ ──
◆半導体テストの種類・意義などの基礎知識から、最新技術動向、そしてAI用等の半導体で非常に重要となる 理論回路のテスト技術については、テスト品質とテストコストを両立させるポイントも含めて詳説します。
［キーワード］
半導体 / テスト / 設計 / 品質 / コスト / 信頼性 / セキュリティ / AI / 技術動向
日時
【Live配信】2025年7月9日（水）10:30～16:30
【アーカイブ(見逃し)配信】視聴期間：7月10日(火)PM～7月16日(水)
受講可能な形式：【Live配信(アーカイブ配信付)】のみ
セミナー趣旨
そこで、本講演では、半導体テスト技術について基礎から分かりやすく紹介します。とくに、AI用等の半導体で非常に重要となる論理回路のテスト技術に関して、実際にテストに用いるテストパターンを作成する「テスト生成」及びテスト生成を実用的な時間で可能にする「テスト容易化設計」について、テスト品質とテストコストを両立させるポイントを含めて詳しく説明します。さらに，最新の技術動向として，自動車用半導体等でとくに重要となる「高品質テスト」，テスト技術への「AI」の活用，テスト技術と「セキュリティ」の関わりについて最近の国際会議の論文に基づいて紹介します。
セミナープログラム
・半導体のライフサイクルにおけるテストとその意義
・テストの種類とテスト装置
・テストコストについて
・テスト品質について
２．テスト設計技術
2.1 テスト生成技術
・故障モデル
・故障シミュレーション
・テスト生成アルゴリズム
2.2 テスト容易化設計技術
・スキャン設計
・組込み自己テスト
３．最新テスト技術動向
3.1 高品質テスト技術
・故障モデルの高度化
・アナログテストの高品質化
3.2 テストへのAI応用
・AI応用による品質向上
・AI応用によるコスト削減
・AI応用による歩留り向上
3.3 テストとセキュリティ
・回路の難読化
・偽造ICへの対策
４．まとめ
□質疑応答□
セミナー講師
【専門】
テスト設計技術，高信頼化技術
セミナー受講料
※お申込みと同時にS&T会員登録をさせていただきます(E-mail案内登録とは異なります)。
55,000円 ( E-Mail案内登録価格 52,250円 )
定価：本体50,000円＋税5,000円
E-Mail案内登録価格：本体47,500円＋税4,750円
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定価：本体40,000円＋税4,000円
E-Mail案内登録価格：本体38,200円＋税3,820円
※他の割引は併用できません。
＜1名分無料適用条件＞
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※同一法人内(グループ会社でも可)による2名同時申込みのみ適用いたします。
※3名様以上のお申込みの場合、１名あたり定価半額で追加受講できます。
※請求書（PDFデータ）は、代表者にE-mailで送信いたします。
※請求書および領収証は1名様ごとに発行可能です。
(申込みフォームの通信欄に「請求書１名ごと発行」と記入ください。)
※他の割引は併用できません。
受講について
ZoomによるLive配信 ►受講方法・接続確認（申込み前に必ずご確認ください）
アーカイブ配信 ►受講方法・視聴環境確認（申込み前に必ずご確認ください）
配布資料
- PDFテキスト(印刷可・編集不可)
受講料
55,000円（税込）/人
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