★ SiC、GaN、酸化ガリウムパワーデバイスの動向や市場予測を徹底解説!

 

日時

【Live配信】2025年6月13日(金) 10:30~16:30
【アーカイブ(録画)配信】2025年6月23日まで受付(視聴期間:6月23日~7月1日まで)

 

【項目】※クリックするとその項目に飛ぶことができます

    セミナー趣旨

    2025年現在、世界各国は自動車の電動化(xEV)開発に向け大きく進展している。現在その進展のスピードはやや減速していると言われているが、xEV化はもはや大きな潮流となった。xEVの性能を決める基幹部品であるパワーデバイスでは、新材料SiC/GaNデバイスの普及が大いに期待されている。特にSiCデバイスはすでにxEVへの搭載も始まっており、今後はシリコンIGBTをいかに凌駕していくかに注目が集まっている。そこでポイントとなるのが、新材料SiCデバイスの性能、信頼性、さらには価格が市場の要求にどう応えていくかであると思われる。最強の競争相手であるシリコンIGBTからSiC/GaN開発技術の現状と今後の動向について、また最近注目され始めてきた新材料酸化ガリウムパワーデバイスの動向や実装技術、さらには市場予測を含め、わかりやすく、かつ丁寧に解説する。

    受講対象・レベル

    パワー半導体デバイス,ならびにパワーエレクトロニクス関連装置の業務に携わっている方。パワー半導体デバイスの今後の動向に興味を持たれている方

    習得できる知識

    パワー半導体デバイスならびにパッケージの最新技術動向。Si-MOSFET, IGBTの強み、SiC/GaNパワーデバイスの特長と課題。パワー半導体デバイスならびにSiC/GaN市場予測。シリコンIGBT、SiCデバイス実装技術。SiC/GaNデバイス特有の設計、プロセス技術、酸化ガリウムパワーデバイス技術など

    セミナープログラム

    1.パワーエレクトロニクス(パワエレ)とはなに
     1.1 パワエレ&パワーデバイスの仕事
     1.2 パワー半導体の種類と基本構造
     1.3 パワーデバイスの適用分野
     1.4 最近のトピックスから
     1.5 パワーデバイスのお客様は何を望んでいるのか?
     1.6 シリコンMOSFET・IGBTの伸長
     1.7 ノーマリ−オフ・ノーマリーオン特性とはなに?
     1.8 パワーデバイス開発のポイント

    2.最新シリコンパワーMOSFETとIGBTの進展と課題
     2.1 パワーデバイス市場の現在と将来
     2.2 MOSFET特性改善を支える技術
     2.3 IGBT特性改善を支える技術
     2.4 IGBT薄ウェハ化の限界
     2.5 IGBT特性改善の次の一手
     2.6 新型IGBTとして期待されるRC-IGBTとはなに
     2.7 シリコンIGBTの実装技術

    3.SiCパワーデバイスの現状と課題
     3.1 半導体デバイス材料の変遷
     3.2 ワイドバンドギャップ半導体とは?
     3.3 なぜSiCパワーデバイスが新材料パワーデバイスでトップランナなのか
     3.4 各社はSiC-IGBTではなくSiC-MOSFETを開発する。なぜか?
     3.5 SiC-MOSFETのSi-IGBTに対する勝ち筋
     3.6 SiC-MOSFETの普及拡大のために解決すべき課題
     3.7 SiC MOSFETコストダウンのための技術開発
     3.8 低オン抵抗化がなぜコストダウンにつながるのか
     3.9 SiC-MOSFET内蔵ダイオードのVf劣化とは?
     3.10 内蔵ダイオード信頼性向上技術

    4.GaNパワーデバイスの現状と課題
     4.1 なぜGaNパワーデバイスなのか?
     4.2 GaNデバイスの構造
     4.3 SiCとGaNデバイスの狙う市場
     4.4 GaNパワーデバイスはHEMT構造。その特徴は?
     4.5 GaN-HEMTのノーマリ−オフ化
     4.6 GaN-HEMTの最新技術動向(高耐圧化へ向けて)
     4.7 縦型GaNデバイスの最新動向

    5.酸化ガリウムパワーデバイスの現状
     5.1 酸化ガリウムの特徴は何
     5.2 最近の酸化ガリウムパワーデバイスの開発状況

    6.SiCパワーデバイス実装技術の進展
     6.1 SiC-MOSFETモジュールに求められるもの
     6.2 銀または銅焼結接合技術
     6.3 SiC-MOSFETモジュール技術

    【質疑応答】

    セミナー講師

    筑波大学 数理物質系 物理工学域 教授 博士(工学) 岩室 憲幸 氏

    セミナー受講料

      1名につき55,000円(消費税込・資料付き)
    〔1社2名以上同時申込の場合1名につき49,500円(税込)〕

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    キーワード

    半導体技術   電子デバイス・部品

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