☆CVD装置内の現象を解析するため、化学反応速度と
   熱流体の基礎から原子層堆積(ALD)装置の流れ解析について紹介!

☆成膜条件と得られた膜の関係から反応を推定した例、プラズマCVDの反応を観察し
 解析した例なども紹介し、CVDとALDのプロセスを最適化するための要点を整理!

※本セミナーはZOOMを使ったLIVE配信セミナーです。会場での参加はございません。

【アーカイブ配信:1/30~2/6(何度でも受講可能)】での受講もお選びいただけます。

セミナー趣旨

 化学気相堆積(CVD)法と原子層堆積(ALD)法は、様々な薄膜を形成する際に広く用いられています。これらには、流れ、熱、反応物質の輸送に気相・表面の化学反応が複雑に絡むため、難しく見える方法です。
 そこでCVD装置内の現象を解析するために、化学反応速度と熱流体の基礎をはじめに紹介します。原子層堆積(ALD)装置の流れ解析についても紹介します。
 次に、実験的に化学反応の様子を観察・測定した例、成膜条件と得られた膜の関係から反応を推定した例、表面反応速度の理論上限を超える工夫をした例、プラズマCVDの反応を観察し解析した例、副生成物から見える情報、などを紹介します。最後に、CVDとALDのプロセスを最適化するための要点を整理します。

受講対象・レベル

・CVDとALDに初めて取り組む技術者
・薄膜形成の反応プロセスと装置を理解し、改善したい技術者
・新たな薄膜形成手法とプロセスを開発したい技術者
・CVDとALDの装置を設計・開発したい技術者
・化学反応を自由に捉えたい研究者・技術者

必要な予備知識

薄膜形成の基礎から説明しますので、予備知識は不要です。

習得できる知識

1.CVD法・ALD法による薄膜形成機構を理解できる。
2.CVD法・ALD法に関わる基本現象が分かる。
3.熱流体と反応場の捉え方を理解し、それを変えて行く手法が分かる。
4.気相化学種から反応を推定する方法が分かる。
5.膜質の情報から反応プロセスを推定する方法が分かる。
6.成膜速度とドープ濃度を上げるために化学反応を組み替える方法が分かる。
7.成膜結果と要因の関係を関数化する簡単な手法と応用例が分かる。
8.副生成物の挙動と影響が分かる。
9.プロセスを最適化するための考え方が分かる。

セミナープログラム

1. 序論
   1-1. CVD法とALD法の概要と特徴 
   1-2. 薄膜形成理由
   1-3. 成膜装置・成膜条件・要因

2. 化学反応の基礎
   2-1. 反応速度、反応次数と速度定数
   2-2. 反応速度式の作り方
   2-3. 律速過程

3. 表面反応・気相反応
   3-1. 主反応過程と膜質 

4. その場観察方法
   4-1. その場観察で得られる情報
   4-2. ガス採取場所の注意
   4-3. 四重極質量分析(QMS)法
   4-4. 圧電性結晶振動子によるその場測定
   4-5. 赤外吸収(FT-IR)法

5. 膜分析方法
   5-1. 膜厚(成膜速度)測定
   5-2. X線光電子分光(XPS)法
   5-3. 二次イオン質量分析(SIMS)法
   5-4. エネルギー分散型X線分光(SEM-EDX)法
   5-5. 分析結果の解釈に困ったとき

6. 反応の場(装置:流れ、熱と反応)を考慮した解析
   6-1. 流れを把握する必要性
   6-2. CVD装置内のガス流れ観察と数値計算
   6-3. 流れを知る方法
   6-4. ガス密度(種・濃度)でも流れは変わる
   6-5. ガス濃度、流れと温度分布(計算)
   6-6. 圧電性結晶振動子によるその場測定:成膜最低温度
   6-7. 流れで膜質は変わる
   6-8. 水平流れと基板回転:流れ・濃度・成長速度・膜厚・回転による平均化
   6-9. 縦流れと基板回転:流れ・温度・濃度・基板直径・成膜速度
   6-10. 基板回転の効果と活用
   6-11. CVD反応器の形状と操作が成膜速度分布・膜質に及ぼす影響
   6-12. 原子層堆積(ALD)装置内の流れと熱(低圧時と反応圧力時)

7. 膜とガスの分析に基づく反応解析とモデル化例
   7-1. 質量分析による反応解析と速度モデル構築
   7-2. 数値解析による反応速度とドーピング反応速度モデル構築
   7-3. 反応設計と解析、成膜速度上限を超える工夫(並列ラングミュア過程)
   7-4. 三塩化ホウ素+クロロシラン
   7-5. ホウ素、炭素とケイ素の相互作用
   7-6. 多元系プラズマCVD機構の解析

8. 副生成物から推定される反応例
   8-1. 排ガス管内堆積物:Si微粉
   8-2. 副生成物から推定される反応
   8-3. 排ガス管内堆積物:クロロシランによるSiとSiC成膜
   8-4. 排ガス管内堆積物:クロロシランによる副生成物の分解除去
   8-5. リアクター内の汚れなどからわかる情報
   8-6. 不要堆積物に起因する障害
   8-7. 副生成物から分かること

9. 最適化の考え方
   9-1. 諸要因の効果と活用
   9-2. 最適化

10. まとめ


【質疑応答】


キーワード:
CVD,ALD,薄膜,化学反応,分析,ガス,セミナー,講演,研修

セミナー講師

反応装置工学ラボラトリ 代表 博士(工学)
羽深 等 氏

【ご専門】
化学工学(反応工学)、半導体結晶ウエハ生産プロセス技術

【ご経歴等】
横浜国立大学名誉教授、化学工学会シニア会員、化学工学会エレクトロニクス部会長、応用物理学会会員、日本結晶成長学会会員、米国化学会会員、米国電気化学会名誉会員、エレクトロニクス実装学会会員、空気清浄協会会員、よこはま高度実装技術コンソーシアム理事長

セミナー受講料

55,000円(税込、資料付)
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開催日時


10:30

受講料

55,000円(税込)/人

※本文中に提示された主催者の割引は申込後に適用されます

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開催場所

全国

主催者

キーワード

半導体技術   化学反応・プロセス   薄膜、表面、界面技術

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