現場実務で役立つ・使えるFT-IR測定・同定の実際とアプリケーションテクニック・コツ

実務での赤外分光法活用を中心に解説
FT-IR(フーリエ変換赤外分光法)の原理、各種測定方法等の
基礎的な知識から実務使用における測定技術や応用技術、
ノウハウまでを徹底解説!

セミナー趣旨

 赤外分光法は、その特徴からも主に有機化合物の化学構造や高次構造の解析手段として研究、開発され、今日では研究・開発だけでなく工場でのインライン評価などにも幅広く一般に使用されている。近年になって、ATR法をはじめとした様々な測定法の開発や装置の改良等によって、従来困難であったような試料も容易に測定が可能となり、今日においてはなくてはならない基本的な測定手法としてその地位を確立している。

 しかし、実際のサンプルや問題に直面した場合、どのように測定・解析を行っていけば良いかは依然重要である。しかし残念ながら、文献・教科書等では装置や測定法の原理は詳細に解説してあるものが多いが、そのアプリケーションとしての解説を十分に行っているものは少ない。

 本講座は、赤外分光法の詳細で専門的な原理ではなく、よりアプリケーション寄りの内容、実務での赤外分光法活用を中心とした。実際の分析操作やスペクトルの解釈、実際の分析において対象とすることの多い異物や混合物、様々な試料や目的への対応の方法、事例などについて、実務使用における測定技術や応用技術、ノウハウを解説する。

受講対象・レベル

・企業等の分析部門、大学等の分析センター、公設試験センターの担当者、リーダー ほか
・研究開発部門、研究機関の担当者、リーダー ほか
・その他、技術部門全般

習得できる知識

・赤外分光法の各種測定法
・アタッチメント特徴と測定技術
・様々な試料・目的に合わせた測定法
・スペクトル処理・解釈の考え方
・混合物解析の実際の手順
・赤外分光法を用いた問題解決の手順

セミナープログラム

1.赤外分光法の基本原理と特徴
 1.1 赤外分光が見ているもの
 1.2 分光分析における吸収の定義
 1.3 吸収スペクトルと吸光度スペクトル
 1.4 赤外分光の波長領域
 1.5 振動モード
 1.6 気体と液体・固体
 1.7 赤外分光法発展の歴史
 1.8 赤外分光法の長所・短所
 1.9 主な検出器と特徴

2.代表的な測定法
 2.1 透過法
 2.2 全反射法(ATR)
  2.2.1 ATR法のバリエーション
  2.2.2 ATR結晶(IRE)の特性
  2.2.3 FTIR-ATRにおける測定深さ
  2.2.4 ATR法における注意点
  2.2.5 ATR補正
  2.2.6 異常分散によるスペクトルへの影響
  2.2.7 様々なATRアタッチメント
  2.2.8 毒劇物としてのATR結晶(IRE)
 2.3 反射法
 2.4 拡散反射法
 2.5 光音響分光法(PAS)
 2.6 ガスセル
 2.7 主な測定法のまとめ
 2.8 顕微赤外
 2.9 ラマン分光法との対比

3.赤外スペクトル
 3.1 赤外スペクトルの概要
 3.2 主な吸収帯
 3.3 指紋領域の利用
 3.4 カルボニル基の判別
 3.5 スペクトルサーチ
 3.6 スペクトルデータベース
 3.7 代表的検索アルゴリズム
 3.8 検索アルゴリズムの限界
 3.9 ヒットスコアの罠
 3.10 検索結果の間違い例
 3.11 スペクトルサーチのコツ
 3.12 差スペクトル
 3.13 混合解析
 3.14 オープンライブラリ
 3.15 系統分析
 3.16 帰属の考え方

4.定量分析
 4.1 検量線法
 4.2 ピーク強度比法
 4.3 内標準法
 4.4 誤差要因

5.大気成分補正
6.測定条件と誤差要因
7.スペクトル処理
 7.1 ベースライン補正
 7.2 スムージング・補間
 7.3 ベースライン(ピーク強度)
 7.4 ピーク高さと面積
 7.5 自動処理の注意点

8.混合物の解析
9.様々な試料
 9.1 バルク
 9.2 フィルム
 9.3 紛体
 9.4 液体
 9.5 異物・微小部
 9.6 繊維
 9.7 汚染・付着物
 9.8 黒色試料

10.高次構造
11.結晶解析
12.融解
13.配向
14.水素結合
15.バルク(全体平均)分析
16.表面分析
17.深さ方向分析
 17.1 断面の利用
 17.2 精密斜め切削法
 17.3 傾斜面の例
 17.4 研磨法
 17.5 角度変化法

18.温度変化測定
19.FTIRにおける注意点
 19.1 ATRにおける異常分散
 19.2 ATRにおける試料変形の影響
 19.3 ATRにおける試料の置き方の影響
 19.4 ATRにおける押し圧の影響
 19.5 KBrと試料との反応
 19.6 KBr錠剤法の粉砕粒度の影響
 19.7 表面研磨、偏光と試料傾斜による干渉縞抑制
 19.8 プレスホルダーによる干渉縞抑制

20.事例
 20.1 フィルム上汚染
 20.2 UV表面処理による構造変化の深さ方向解析
 20.3 UV照射によるオレフィンの構造変化
 20.4 UV照射による添加剤入りPVCの構造変化
 20.5 ポリイミドの表面処理層の深さ方向分析
 20.6 Pi/Cu/Si界面の解析
 20.7 時間分解測定

21.仮説思考による研究開発と問題解決
22.質疑

セミナー講師

ジャパン・リサーチ・ラボ 代表 博士(工学) 奥村 治樹 氏
略歴
 大手化学メーカー、電器メーカーでの研究開発及びにマネジメント業務に携わる。現在は、ベンチャーから上場企業まで様々な業種の顧問や技術コンサルタントとして、研究開発、製造における課題解決、戦略策定から人事研修などの人材育成などを行っている(詳細はHP参照)。また、学会等での招待講演や国プロにおけるキャリア形成プログラムの講師なども行っている。
その他 所属・役職
・大阪産業大学 情報システム学科 非常勤講師
・大阪市産業創造館 技術・経営相談員
・滋賀県産業支援プラザ 相談員
・知財管理技能士

セミナー受講料

49,500円( S&T会員受講料47,020円 )
(まだS&T会員未登録の方は、申込みフォームの通信欄に「会員登録情報希望」と記入してください。
詳しい情報を送付します。ご登録いただくと、今回から会員受講料が適用可能です。)
S&T会員なら、2名同時申込みで1名分無料
2名で 49,500円 (2名ともS&T会員登録必須/1名あたり定価半額24,750円)

【1名分無料適用条件】
※2名様ともS&T会員登録が必須です。
※同一法人内(グループ会社でも可)による2名同時申込みのみ適用いたします。
※3名様以上のお申込みの場合、1名あたり定価半額で追加受講できます。
※受講券、請求書は、代表者に郵送いたします。
※請求書および領収証は1名様ごとに発行可能です。
 (申込みフォームの通信欄に「請求書1名ごと発行」と記入ください。)
※他の割引は併用できません。

※3月4日開催「分析におけるスペクトル解析の基本と応用テクニック」とセットでお得な
「FT-IR・スペクトル解析 実践テクニックを身に付けるための2日間講座」
ございます。


※セミナーに申し込むにはものづくりドットコム会員登録が必要です

開催日時


10:30

受講料

49,500円(税込)/人

※本文中に提示された主催者の割引は申込後に適用されます

※銀行振込 または、当日現金でのお支払い

開催場所

東京都

MAP

【品川区】きゅりあん

【JR・東急・りんかい線】大井町駅

主催者

キーワード

分析・環境化学   高分子・樹脂材料

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