★2026年3月13日WEBでオンライン開講。テック・サイトウ 齋藤氏が、【積層セラミックコンデンサ(MLCC)の故障メカニズム・解析事例 および品質向上への取り組み】について解説する講座です。
■注目ポイント
★MLCCを中心とした故障解析の第一人者を23年間務めた講師がMLCC単体だけでなく実装後の故障、小型化への対応について言及!
セミナー趣旨
【本セミナーの主題および状況・本講座の注目ポイント】
■本セミナーの主題および状況(講師より)
★積層セラミックコンデンサ(以下、MLCC)は小型・軽量で高い静電容量を持ちます。
★MLCCは電子機器のさらなる小型化と電子回路の高密度化への需要が高まる中、欠かせない部品となっています。
■注目ポイント
★開発、故障解析の経験豊富な講師によるMLCCを使用する現場・開発・品質関係者向けた実践的な知識を活かした講義を実施!
★高誘電率発生の原理、選定のための基礎知識を解説してMLCCの主な故障メカニズム(クラックと絶縁劣化)とその解析事例を紹介!
★大きな流れである小型化の影響とそれに伴う故障リスク、代替品の簡便な選定方法についても紹介!
【講演主旨】
小型・軽量で高い静電容量を持つ積層セラミックコンデンサ(以下、MLCC)は、電子機器のさらなる小型化と電子回路の高密度化への需要が高まる中、欠かせない部品となっています。本セミナーは、MLCCを使用する現場・開発・品質関係者向けに、実践的な知識を活かした講義を行います。開発、故障解析の経験豊富な講師が、高誘電率発生の原理、選定のための基礎知識を解説し、MLCCの主な故障メカニズム(クラックと絶縁劣化)とその解析事例を紹介します。また、大きな流れである小型化の影響とそれに伴う故障リスク、代替品の簡便な選定方法についても紹介します
セミナープログラム
【プログラム】
●高信頼性の重要性
●MLCCの特徴とクラックの発生原因と解析手法
MLCCに生じるクラックの発生個所とその原因
クラックを検出する観察方法と解析用の応力シミュレーション
●MLCCの絶縁劣化メカニズムと解析手法、および寿命予測
MLCCの絶縁劣化原因とその発生メカニズム
絶縁劣化箇所の検出方法と原因推定
高温高電界での寿命予測と関連因子
●新たなMLCCの選定や小型のMLCCの使用における注意点
代替品の選定時のチェックポイント
小型品への設計変更時に考慮すべきこと
【質疑応答】
【キーワード】
MLCC、絶縁劣化、クラック、応力シミュレーション、代替品、ダウンサイジング、ユーザー視点、寿命予測
【講演者・講演のPRポイント】
株式会社村田製作所でMLCCを中心とした故障解析の第一人者を23年間務めた齋藤が業界最先端の経験・技術をお伝えします。MLCC単体だけでなく、実装後の故障、小型化への対応にも言及します。
【習得できる知識】
・MLCCに発生する様々なクラックの発生原因と対策案
・MLCCの絶縁劣化メカニズムと寿命予測方法
・絶縁劣化箇所の特定方法と原因推定
・従来より小型のMLCCを採用する際の注意点
セミナー講師
テック・サイトウ 代表 齋藤 彰 氏
セミナー受講料
【1名の場合】49,500円(税込、テキスト費用を含む)
2名以上は一人につき、16,500円が加算されます。
受講料
49,500円(税込)/人
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2026/02/12(木)
10:30 ~ 17:00
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