セミナー趣旨

受講対象・レベル

・半導体の設計や製造に関わる方
・電子機器の開発に関わる方
※とくに予備知識は必要ありませんが、論理回路の基礎知識があればより理解が深まります。

習得できる知識

・半導体テストに関する基礎知識
・論理回路テストに関する一般知識
・テスト技術の動向に関する知識

セミナープログラム

１．半導体のテストについて
　・半導体のライフサイクルにおけるテストとその意義
　・テストの種類とテスト装置
　・テストコストについて
　・テスト品質について

２．テスト設計技術
　2.1 テスト生成技術
　　　・故障モデル
　　　・故障シミュレーション
　　　・テスト生成アルゴリズム
　2.2 テスト容易化設計技術
　　　・スキャン設計
　　　・組込み自己テスト

３．最新テスト技術動向
　3.1 高品質テスト技術
　　　・故障モデルの高度化
　　　・アナログテストの高品質化
　3.2 テストへのAI応用
　　　・AI応用による品質向上
　　　・AI応用によるコスト削減
　　　・AI応用による歩留り向上
　3.3 テストとセキュリティ
　　　・回路の難読化
　　　・偽造ICへの対策

４．まとめ

セミナー講師

(株)EVALUTO　講師・技術コンサルタント　工学博士　畠山 一実　氏

【専門】テスト設計技術，高信頼化技術

1982年に京都大学大学院博士後期課程を修了(工学博士)。以降，(株)日立製作所，(株)ルネサステクノロジ，(株)半導体理工学研究センター及び奈良先端科学技術大学院大学にてテスト設計技術等の研究開発に従事。その後，群馬大学にてテスト設計技術に関する研究に協力するとともに，日本大学等にて非常勤講師を担当。

セミナー受講料

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1名申込みの場合： 受講料 44,000円(E-Mail案内登録価格 42,020円 )
　定価：本体40,000円＋税4,000円
　E-Mail案内登録価格：本体38,200円＋税3,820円
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＜1名分無料適用条件＞
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※同一法人内(グループ会社でも可)による2名同時申込みのみ適用いたします。
※3名様以上のお申込みの場合、１名あたり定価半額で追加受講できます。
※請求書（クレジットカード決済の場合は領収書）は、代表者にS&T会員マイページにて発行いたします（PDF）。
※請求書および領収証は1名様ごとに発行可能です。
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※他の割引は併用できません。

主催者

開催場所

受講について

オンデマンド配信　►受講方法・視聴環境確認（申込み前に必ずご確認ください）

≪配布資料≫

●　PDFテキスト（印刷可・編集不可）※S＆T会員のマイページよりダウンロード可となります。
●　講師メールアドレスの掲載：有

（備考）※WEBセミナーの録音・撮影、複製は固くお断りいたします。
　　　　※講師の所属などは、収録当時のものをご案内しております。