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JISSOを体系的に解説する初の機会!
半導体の使い方/安全設計をJISSOレビューし、
車載半導体の新しい認定プロセスを提示する!
セミナー趣旨
実装は一般的にはPackagingと訳され、電子機器メーカの付加価値、軽/薄/短/小コンセプトを志向する高密度化やモノツクリを具現化する。一方、JISSOは車/電装メーカの付加価値であり、車にマイコン(半導体)を安全に、安く搭載するための技術である。具体的には(EMCに対応する)半導体の車載応用技術や信頼性技術が統合されている。
JISSOは機械・電気強度の低い半導体を車で使えるように補強し、適切な使い方を提示することで、電子制御ユニット(ECU)の品質保証に貢献する。つまり、ECU(=半導体)の故障はJISSOの失敗である。ECU品質は購入する半導体・電子部品の品質に依存する。購入部品は本来、受入検査で認定し保証する。しかし、半導体は受入検査が困難で、品質保証のネックとなっていた。車載半導体の認定試験であるAEC Q-100は、半導体単体の信頼性試験であり、車載の「使い方」を保証できず、受入検査の代用としては不十分である。
日本の自動車産業に培われたJISSOはECU/半導体故障解析を通して半導体の脆弱性を把握し、それらを補強する技術として発展してきた。これは英語のPackagingの意味とは対比しないため我々はJISSOとしている。このセミナーはJISSOを体系的に解説する初の機会であり、具体的には半導体の使い方/安全設計をJISSOレビューすることにより、車載半導体の新しい認定プロセスを提示する。
習得できる知識
ECUの品質保証向上に必要な方策
セミナープログラム
- 実装技術(JISSO)
- 車載実装
- More than Moore(ムーアの法則のその先)
- Packaging(パッケージング)
- SMT
- 実装技術の分化
- ECUの信頼性
- 半導体の信頼性
- 半導体の使い方
- 半導体故障解析
- ESD故障
- 半導体の脆弱性
- 検査率陥
- TDDB
- 異常寿命
- パターン欠陥
- ICの検査率
- システムLSIの検査率
- 自動テスト設計
- ESD微小破壊
- ESD故障の進行
- 揮発性故障
- パンチスルー降伏
- テストカバレージ
- 半導体のテストカバレージ
- 複合素子のマスキング効果
- 検査マージン
- システムLSIの低温検査
- 発振回路 内部降圧電源
- ESDイミュニティ
- ECU故障
- 電源低電圧誤動作
- 電源の瞬断・瞬低
- 電源トランジェントによる誤動作
- ESDノイズ
- ハンドリングESD
- システムレベルESD
- EMC回路
- 配線を通すESD
- 直流再生
- マイコンの脆弱性
- WDT/PRUN
- オーバフロー
- 検査率陥
- 電子品質保証
- 電子品質保証プロセス
- ECUの品質保証
- 品質保証プロセス
- 半導体認定
- ECUの初期故障
- 電子部品認定
- 半導体の認定要件
- AEC Q-100
- 半導体の目標故障率
- システムLSIの検査率
- 半導体の安全設計
- HSWの安全設計
- システムLSIのESD設計
- 配線ループ
- 半導体ラッチアップ試験
- 電子品質保証プロセス
□質疑応答□
セミナー講師
冨永 保 氏
元・よこはま高度実装技術コンソーシアム 理事、元・カルソニックカンセイ(株)/MARELLI
【専門】
半導体の車載応用技術
車載半導体の評価技術開発
大電流パワーモジュールの実装技術
【参考資料】
JEITA EDR-4709
セミナー受講料
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※同一法人内(グループ会社でも可)による2名同時申込みのみ適用いたします。
※3名様以上のお申込みの場合、1名あたり定価半額で追加受講できます。
※受講券、請求書は、代表者に郵送いたします。
※請求書および領収証は1名様ごとに発行可能です。
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1名申込みの場合:35,200円 ( E-Mail案内登録価格 33,440円 )
※1名様でLive配信/WEBセミナーを受講する場合、上記特別価格になります。
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開催日時
10:30 ~
受講料
49,500円(税込)/人
※本文中に提示された主催者の割引は申込後に適用されます
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開催場所
全国
主催者
キーワード
自動車技術 半導体技術 品質マネジメント総合
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