【中止】GC分析の代替えキャリアガス検討とヘリウム削減にむけた対策

セミナー趣旨

本講座では、FT-IRを使いこなして頂くことを目的としています。FT-IRの基礎事項の確認をし、分析の一連の流れを解説する中で、ユーザーの方々からご質問の多い前処理に関して焦点を当てて話を進めていきます。
前処理については、個人の工夫の部分が多いことから、詳細の説明をされることが少ないテーマです。しかし、なぜ前処理が必要なのか、前処理でどのようなことを考慮すべきかを知らなければ自分なりの工夫もできません。FT-IRの基礎事項を確認しながら前処理の必要性を考えていきます。試料の形状・状態、目的に応じた前処理方法を解説していきます。

習得できる知識

・FT-IRの前処理に関する知識
・FT-IRの基本事項（IRで何がわかるか、測定方法、各測定方法の違い、解析）
・FT-IR分析の一連の流れと具体的作業

セミナープログラム

＜１日目　６月１３日(火)＞
１．分析の目的

２．FT-IRの基礎
　2.1 分析の中のFT-IR 〜その位置づけ、得意不得意など〜
　2.2 FT-IRから得られる情報
　2.3 どんな事に使えるのか
　2.4 FT-IRでスペクトルが得られるまで

３．FT-IRの測定方法（本体）
　3.1 それぞれの測定方法と特徴
　3.2 きれいなスペクトルを得る意味　

４．測定のための前処理（その1）
　4.1 ATR法のための前処理
　4.2 透過法のための前処理
　4.3 前処理のための道具
　4.4 分離のための前処理

５．スペクトルの解析　（その1）
　5.1 解析の流れ
　5.2 データベースを用いた解析
　5.3 オリジナルデータベースの作成
　5.4 よく使われるスペクトルの処理とそれを使用した解析

６．本体FT-IRを使用した分析事例

７．FT-IR使用上の注意点

８．1日目のまとめ
（FT-IR本体分析の流れ、本体測定での前処理）

【質疑応答】

＜２日目　６月２０日(火)＞
１．1日目の復習　

２．スペクトルの解析 （その2）
　2.1 構造解析
　2.2 問題解決のための解析
　2.3 解析まとめ　

３．FT-IR本体と顕微測定
　3.1 本体測定との違い
　3.2 顕微-透過法の特徴
　3.3 顕微-反射法の特徴
　3.4 顕微-ATR法の特徴
　3.5 イメージング（マッピング）法の特徴
　3.6 測定法のまとめ

４．測定のための前処理（その2）
　4.1 顕微測定のための前処理
　4.2 前処理に使用する機器
　4.3 異物を取り出す、分離する
　4.4 積層体、紙、フィルムなどの断面作成
　4.4.1 電子顕微鏡での試料作製との比較
　4.5 積層体、紙、フィルムなどの斜断面の利点と作成

５．顕微FT-IRを使用した分析事例

６．まとめ

【質疑応答】

セミナー講師

あなりす 代表 博士(工学) 岡田 きよみ 氏

【講師略歴】
1984-2005 王子ホールディングス(株)　(研究開発、分析部署)
2006-2016 (株)パーキンエルマージャパン（分光機器部署）
2016-2019 京都大学 工学研究科
2018- あなりす

セミナー受講料

1名につき55，000円（消費税込、資料付）
〔1社2名以上同時申込の場合のみ1名につき49，500円〕