ALD(原子層堆積法)の基礎と高品質膜化および最新動向

~反応機構、モニタリング、材料選択、プロセス設計、低温化、応用事例~ 

セミナー趣旨

 原子層堆積法は、ナノの酸化物薄膜を複雑形状にもコンフォーマルで形成できることから、LSI製造に利用されています。近年では、LSIのみならず、MEMS、太陽電池、機械部品、PETボトルへのコーティングにも活用が検討されています。原子層堆積での高品質膜の達成のため、表面反応を中心とした反応機構の理解と、モニタリング、そして適切な材料選択、プロセス調整の知識が欠かせません。
 山形大学ではこれまで原子層堆積法のその場観察と低温化研究を進めてまいりましたが、我々の研究成果を題材に、原子層堆積法の特に表面反応を中心とした機構理解の達成を目標とします。さらに最新研究成果として3D-CoolALD(室温三次元成膜ALD)による各種酸化物膜の室温形成技術について解説いたします。

習得できる知識

吸着反応機構、表面酸化、モニタリング技術、プロセス調整

セミナープログラム

1.原子層堆積法の基礎
 1-1.原子層堆積法とは
 1-2.原子層堆積の開発の歴史
 1-3.熱ALDとプラズマALD
 1-4.事例紹介

2.原子層堆積における表面反応機構
 2-1.原料分子の吸着反応~ラングミュア―型解離吸着~
 2-2.飽和吸着のモニタリング手法
 2-3.プリカーサーの選択
 2-4.吸着表面の酸化反応
 2-5.酸化種の選択
 2-6.酸化物表面と水の反応
 2-7.酸化物表面と水素脱離
 2-8.フォーミングアニールと界面層の問題
 2-9.不純物モニタリング法

3.山形大学開発室温三次元成膜ALDの解説
 3-1.SiO2の室温形成事例とペットボトル・アクリル樹脂コーティング
 3-2.生体親和膜TiO2の室温形成事例とペットボトルコーティング
 3-3.Al2O3の室温形成事例
 3-4.HfO2の室温形成事例
 3-5.Fe2O3の室温製膜事例
 3-6.アルミナシリケート薄膜の室温製膜事例とイオン吸着フィルターへの応用


ALD,原子層堆積,プラズマ,モニタリング,酸化物,室温,,成膜,SiO2,セミナー

セミナー講師

山形大学 大学院理工学研究科 教授 廣瀬 文彦 氏

【経歴】
1992年3月 東北大学大学院工学研究科修了 博士(工学)
現在 山形大学大学院理工学研究科教授

【専門】半導体薄膜製造、界面制御太陽電池
【主な研究】プラズマプロセスを用いた室温原子層堆積法の研究

セミナー受講料

49,500円(税込、資料付)
■ セミナー主催者からの会員登録をしていただいた場合、1名で申込の場合44,000円、
  2名同時申込の場合計49,500円(2人目無料:1名あたり24,750円)で受講できます。
(セミナーのお申し込みと同時に会員登録をさせていただきますので、
   今回の受講料から会員価格を適用いたします。)
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  メールまたは郵送でのご案内となります。
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受講について

Zoomを使ったWEB配信セミナー受講の手順

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  • セミナー資料は開催前日までにお送りいたします。
  • 無断転載、二次利用や講義の録音、録画などの行為を固く禁じます。
  • 受講にはWindowsPCを推奨しております。
    タブレットやスマートフォンでも受講可能ですが、機能が制限される場合があります。

※セミナーに申し込むにはものづくりドットコム会員登録が必要です

開催日時


13:00

受講料

49,500円(税込)/人

※本文中に提示された主催者の割引は申込後に適用されます

※銀行振込

開催場所

全国

主催者

キーワード

薄膜、表面、界面技術   半導体技術   高分子・樹脂加工/成形

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開催日時


13:00

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49,500円(税込)/人

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薄膜、表面、界面技術   半導体技術   高分子・樹脂加工/成形

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