レジスト・微細加工用材料の基礎とトラブル対策【アーカイブ配信】

レジストの基礎から、レジスト・微細加工用材料のトラブル対策についてその要求特性、課題をふまえて解説します!

こちらは12/6実施WEBセミナーのアーカイブ(録画)配信です。

セミナー趣旨

 メモリー、マイクロセッサ等のデバイスの高集積化の要求は、携帯端末、情報機器等の高性能化に伴い、益々大きくなっている。リソグラフィは現在先端の量産で用いられているArF液浸、ダブル/マルチパターニングに加えて、待ち望まれていたEUVが用いられはじめている。レジスト・微細加工用材料はこのようなリソグラフィの変革に対応して進展し続けている。
 本講演では、リソグラフィの基礎を解説した後、デバイスの微細化を支えるレジストの基礎を述べ、レジスト・微細加工用材料のトラブル対策をその要求特性、課題をふまえて解説する。最後に本年の3nmロジックノード以降の今後のレジスト・微細加工用材料の技術展望、市場動向についてまとめる。

習得できる知識

・レジスト・微細加工用材料の基礎
・リソグラフィの基礎
・レジスト・微細加工用材料のトラブル対策
・レジスト・微細加工用材料の最新技術・ビジネス動向
 

セミナープログラム

1.リソグラフィの基礎
 1-1.露光
 1-2.照明方法
 1-3.マスク

2.レジストの基礎
 2-1.溶解阻害型レジスト
  (1)g線レジスト
  (2)i線レジスト
  (3)レジスト組成材料の詳細とキーポイント
 2-2.化学増幅型レジスト
  (1)KrFレジスト
  (2)ArFレジスト
  (3)レジスト組成材料の詳細とキーポイント

3.レジスト・微細加工用材料のトラブル対策
 3-1.レジストパターン形成不良への対応
  (1)パターン倒れ
  (2)パターン密着性不良
  (3)パターン形状不良
  (4)チップ内のパターン均一性不良
 3-2.化学増幅型レジストのトラブル対策
  (1)レジスト材料の安定性
  (2)パターン形成時の基板からの影響
  (3)パターン形成時の大気からの影響
 3-3.ArF液浸リソグラフィ用レジストのトラブル対策
 3-4.ダブルパターニング、マルチパターニングのトラブル対策
  (1)リソーエッチ(LE)プロセス用材料
  (2)セルフアラインド(SA)プロセス用材料
 3-5.EUVレジストの課題と対策
  (1)感度/解像度/ラフネスのトレードオフ
  (2)ランダム欠陥(Stochastic Effects)
 3-6.自己組織化(DSA)リソグラフィのトラブル対策
  (1)グラフォエピタキシー用材料
  (2)ケミカルエピタキシー用材料
 3-7.ナノインプリントリソグラフィのトラブル対策

4.レジスト・微細加工用材料の技術展望、市場動向


レジスト、微細、加工、パターン、形成、液浸、リソグラフィ、トラブル、欠陥、対策

セミナー講師

大阪大学 産業科学研究所 招聘教授 工学博士 遠藤 政孝 氏

セミナー受講料

55,000円(税込、資料付)
■ セミナー主催者からの会員登録をしていただいた場合、1名で申込の場合49,500円、
  2名同時申込の場合計55,000円(2人目無料:1名あたり27,500円)で受講できます。
(セミナーのお申し込みと同時に会員登録をさせていただきますので、
   今回の受講料から会員価格を適用いたします。)
※ 会員登録とは
  ご登録いただきますと、セミナーや書籍などの商品をご案内させていただきます。
  すべて無料で年会費・更新料・登録費は一切かかりません。
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受講について

・こちらは12/6実施WEBセミナーのアーカイブ(録画)配信です。

・配信開始日までに、セミナー資料は郵送します。職場以外での受け取りを希望される場合はご住所をお知らせ下さい。セミナー資料の無断転載、二次利用や講義の録音、録画などの行為を固く禁じます。

・動画のURLはメールでお送りします。


申込締日:2022/12/19

※セミナーに申し込むにはものづくりドットコム会員登録が必要です

開催日時


0:00

受講料

55,000円(税込)/人

※本文中に提示された主催者の割引は申込後に適用されます

※銀行振込

開催場所

全国

主催者

キーワード

半導体技術   電子デバイス・部品   高分子・樹脂材料

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半導体技術   電子デバイス・部品   高分子・樹脂材料

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