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半導体製造のフロー解説とそれぞれのプロセスの種類・原理や
用いられる装置・材料等について要点・問題点などを解説!
FinFETや3DNAND、FOWLP等についても言及、
それらの技術・方式が各製造工程に与える影響とは?
本セミナーはZoomによるオンラインセミナーに変更となりました。
会場での講義は行いません。お好きな場所で受講が可能です。
※PCもしくはスマートフォンとネットワーク環境をご準備下さい。
受講に関しましては別途ご案内を致します。
セミナー趣旨
半導体の製造工程は、ウエハ上にデバイスを作りこんでいく前工程、個々のチップに個片化してパッケージ化する後工程に分けられます。
本セミナーでは、ウエハからLSIの最終製品までの一連の製造フローを紹介し、それぞれのプロセスの種類や原理、用いられる装置や材料について要点を解説していきます。また、近年では、前工程ではFinFETや3DNAND、後工程ではFOWLPなどの新しい技術が次々と製品化されていますが、これらの技術・方式についても触れ、各製造工程に与える影響についても解説します。
受講対象・レベル
半導体製造に関して幅広い知識を得たい方、前工程を担当しているが後工程のことを知りたい方やその逆。新入社員や若手技術者、半導体関連の営業担当の方など。
習得できる知識
半導体製造の全体の流れ、半導体デバイスの基本モジュールと各種メモリ構造、前工程の個別プロセスの詳細、パッケージの種類、後工程の個別プロセスの詳細など
セミナープログラム
1.はじめに
(1)シリコンウエハの製造方法
(2)前工程と後工程とは
(3)デバイスの種類とプロセスの関係
2.半導体デバイスの基本モジュールの構造と製造フロー
(1)デバイス構造作製の基礎〜成膜とパターニング
(2)STI
(3)トランジスタ
(4)配線
(5)メモリの種類と構造
3.前工程の個別プロセス詳細
〜各工程の原理、要求性能、装置・材料技術、最新の動向、問題点等〜
(1)酸化
(2)CVD
①LPCVD
②常圧CVD
③SACVD
④プラズマCVD
⑤ALD
⑥MOCVD
(3)PVD
①スパッタリング
②リフロースパッタリング
③コリメートスパッタリング
④ロングスロースパッタリング
(4)めっき
(5)イオン注入
(6)リソグラフィー
①レジストコーティング
②露光機
③現像
(7)エッチング
①ウエットエッチング
②プラズマエッチング
③RIE
(8)CMP
(9)洗浄
(10)検査装置
4.パッケージの種類とその構造・特徴および技術動向
(1)リードフレームを用いるパッケージ
〜DIP、QFP
(2)パッケージ基板を用いるパッケージ
〜P-BGA、FCBGA
(3)ウエハレベルパッケージ
〜WLCSP、FOWLP
5.後工程の個別プロセス詳細
〜各工程の原理、要求性能、装置・材料技術、最新の動向等〜
(1)裏面研削
(2)ダイシング
(3)ダイボンディング
(4)ワイヤボンディング
(5)モールド
(6)バンプ形成
<質疑応答>
セミナー講師
(株)ISTL 代表取締役 博士(工学) 礒部 晶 先生
【略歴】
1984-2002 NECにてLSI多層配線プロセス開発、1991よりCMPの開発、量産化に従事
2002-2006 東京精密(株)にて執行役員CMPグループリーダー
2006-20013 ニッタハースにて研究開発GM
2013-2015 (株)ディスコにて新規事業開発
2014 九州大学より博士学位取得
2015- (株)ISTL CMP関連を中心に技術開発、事業開発アドバイザー
2018 中小企業診断士
セミナー受講料
1名47,300円(税込(消費税10%)、資料付)
*1社2名以上同時申込の場合、1名につき36,300円
*学校法人割引;学生、教員のご参加は受講料50%割引。
受講について
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