★PLP、ハイブリッドボンディング、再配線技術、ガラス基板など、
 AI半導体のパッケージ技術の最新動向を詳解! 今後の材料・装置開発のヒントを掴む!

日時

【Live配信】2026年5月18日(月) 10:30~16:30
【アーカイブ(録画)配信】 2026年5月27日まで受付(視聴期間:5月27日~6月6日まで) 

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    セミナー趣旨

    最先端GPUとHBMにより具現化された生成AIサービスの利活用が急伸しており, そのための巨額なデータセンター投資が市場経済を牽引しています. さらに, コスト低減, 電力消費の効率化, リアルタイム処理に対応した推論AI, エッジAIが様々な産業分野へ浸透することにより, 半導体産業の成長維持が期待されています. 先端デバイスの微細化開発だけでなく, 先端、非先端デバイスのMix&Matchによる多様なシステムモジュールを市場へ効率的に供給するChiplet integrationの商流構築への期待も高まっています. 昨今の先進パッケージは突然変異の所与ではなく, Pb-Free Bump形成やLow-k CPIを萌芽とする, デバイス設計, プロセス, 材料, 装置, テスト, 信頼性評価に亘る“中間領域技術”の進展の成果に依拠しています. この視座から, 本講座では三次元集積化技術の開発推移を整理し, 基幹プロセスの基礎を再訪し, 今後の先進パッケージの動向に言及します. 参加される皆様の理解促進の一助となれば幸いです.

    習得できる知識

    ・配線階層を縦断するプロセスの視点
    ・三次元集積化の基幹プロセスの基礎と現状の課題
    ・今さら聞けないパッケージプロセス構築の留意点

    セミナープログラム

    1.市場概況
     1.1 Current Topics
     1.2 最近の先進半導体デバイスパッケージ(インテグレーション規模の拡大)

    2.中間領域技術の進展による価値創出
     2.1 “後工程”プロセスの高品位化
     2.2 デバイスレベル, システムレベルの性能向上

    3.三次元集積化プロセスの基礎
     3.1 ロジックとメモリのチップ積層SoC(RDL, Micro-bumping, Mass reflow積層導入の原点)
     3.2 TSVプロセスの選択肢(CIS, HBMからBSPDNへの拡張)
     3.3 Wafer Level Hybrid Bonding(CIS, NAND)
     3.4 CoW(D2W) Hybrid Bonding(SRAM増強, 異種チップ積層)の課題
     3.5 Si/OrganicインタポーザーからSiブリッジによるモールドインタポーザへ(レティクルサイズ制約の解放)
     3.6 RDL微細化, 多層化(ダマシンプロセス導入の要否)

    4.Fan-Out(FO)型パッケージの基礎
     4.1 FOプロセス選択肢の拡張
     4.2 封止材料起因の課題
     4.3 Through Mold Interconnectによる三次元集積化(InFOの頸木から脱却)
     4.4 メモリ, パワーデバイスへ浸透するFOパッケージ

    5.Panel Level Process/Package (PLP)の高品位化の課題
     5.1 モールド樹脂基板の反り低減の困難
     5.2 マスクレス露光によるインテグレーション規模拡大

    6.今後の開発動向と市場動向
     6.1 “ガラス基板プロセス”課題の整理
     6.2 Co-Packaged Opticsの話題と課題
     6.3 AI市場を支配するメモリの動向(LPW, HBF, HBS)

    セミナー講師

    神奈川工科大学 工学部 電気電子情報工学科 非常勤講師 博士(工学) 江澤 弘和 氏

    セミナー受講料

    1名につき55,000円(消費税込・資料付き)
    〔1社2名以上同時申込の場合1名につき49,500円(税込)〕

    主催者

    開催場所

    全国

    受講について

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    開催日時


    10:30

    受講料

    55,000円(税込)/人

    ※本文中に提示された主催者の割引は申込後に適用されます

    ※銀行振込

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