≪有機物を中心とした≫二次イオン質量分析(SIMS/TOF-SIMS/OrbiSIMS)の基礎と分析の進め方および機械学習によるデータ解析

セミナー趣旨

受講対象・レベル

・予備知識は特に必要ないが、分析化学・表面分析・質量分析などの知識が多少あると理解しやすい。
・表面分析・化学イメージングを利用している方、もしくはこれから利用する方に役立つ。
・計測データへの機械学習の応用について学びたい方に役立つ。

習得できる知識

・ToF-SIMSおよびその周辺（OrbiSIMSなど）についての基礎知識
・スペクトルとイメージを併せ持つSIMSデータの基本構造の理解
・教師なしおよび教師あり機械学習法の基礎知識とSIMSデータへの応用例

セミナープログラム

１．二次イオン質量分析法（SIMS）の特徴
　1.1 SIMSの原理と一次イオン源
　　1.1.1 飛行時間型二次イオン質量分析法(ToF-SIMS)
　　1.1.2 一次イオン源　Biクラスターとガスクラスターイオンビーム
　1.2 SIMSのデータの構造　スペクトルとイメージ
　　1.2.1 質量スペクトル
　　1.2.2 ２次元イメージング
　　1.2.3 深さ方向分析と3次元イメージング
　1.3 最近のToF-SIMSの周辺
　　　MSMS、オービトラップ、レーザーイオン化（レーザーSNMS）
　1.4 測定の実際
　　　試料準備、測定条件の決定、測定時の注意点、測定後のデータの扱いなど。
 
２．ToF-SIMSの応用例
　2.1 有機物・高分子
　2.2 バイオ材料・生物試料
　2.3 その他（有機無機複合材料・無機物・電池材料・半導体など）
 
３．SIMSデータへの機械学習の応用
　3.1 機械学習とは
　3.2 機械学習に向けた計測データの変換
　3.3 教師なし学習法による特徴抽出
　3.4 教師あり学習法による未知物質同定と定量分析
　3.5 複数測定手法データ（マルチモーダルデータ）の構築方法と機械学習の応用

　□ 質疑応答 □

セミナー講師

成蹊大学　理工学部　教授　博士(工学)　青柳 里果　氏

【専門】
表面科学、二次イオン質量分析法、多変量解析、機械学習、生物物理学

【略歴】
1995年早稲田大学理工学部応用化学科卒業、1997年同大学院修士課程修了。P&G Far East Inc.で微生物を研究。2001年早大理工助手、2002年早大院理工博士後期課程修了、バイオセンサ開発で博士号（工学）取得。2002年成蹊大学理工学部助手、TOF-SIMSデータ解析開始。2005年島根大学生物資源科学部助教授/准教授。2014年成蹊大理工准教授、2017年から現職。2024年度からISO TC201 SC6 (Mass Spectrometries) 国際議長。

セミナー受講料

49,500円 S&T会員登録とE-Mail案内登録特典について

2名で49,500円 (2名ともE-Mail案内登録必須​／１名あたり定価半額24,750円)
3名で74,250円 (3名ともE-Mail案内登録必須​) ※4名以上の場合も1名あたり24,750円で受講できます。

1名申込みの場合： 受講料 39,600円(E-Mail案内登録価格 37,840円)
　　定価：本体36,000円＋税3,600円
　　E-Mail案内登録価格：本体34,400円＋税3,440円
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主催者

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備考

配布資料
PDFテキスト(印刷可・編集不可)
　※開催2日前を目安に、弊社HPのマイページよりダウンロード可となります。