半導体プロセスにおける検査・解析技術の基礎と最新技術動向〜光と電子で「見る」技術の最先端〜

セミナー趣旨

受講対象・レベル

半導体プロセスにおける検査・解析について、基礎から最新動向までを幅広く知りたい方に適します。
予備知識は特に必要ありませんが、半導体の簡単なエネルギーバンド図に馴染みがあると理解しやすくなります

習得できる知識

・光学検査装置や電子顕微鏡、プローブ顕微鏡等の基本的な原理や特徴
・半導体プロセスで必要とされる検査技術の種類・特徴
・半導体デバイス・プロセスのトレンドと最新の検査・解析技術の動向、将来展望

セミナープログラム

セミナー講師

セミナー受講料

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