電子機器／部品の「信頼性試験法」と「耐用寿命予測」の基本的な考え方，進め方，見極め方

セミナー趣旨

　 電子機器の小型化・低コスト化のために小形の部品や低コストの海外製電子部品を使用する場合，充分に注意して調達することが重要です。 実際に，パソコンの短寿命，テレビ・扇風機・洗濯機の発火・発煙問題など海外製部品の使用による様々なトラブルが起こっています。これらのトラブルをなくすため，本セミナーでは，トラブルの未然防止対策のための信頼性試験方法を詳細に解説します。 その結果，電子機器が市場でいつ，どのくらいの確率で故障が起こるのか予測でき，トラブルの未然防止を行うことができるようになります。

セミナープログラム

１．電子機器の市場トラブルの事例

２．市場トラブルから学ぶ対応の方法
　　2.1 トラブル原因の考察
　　2.2 トラブルの未然防止の方法
　　　　　
３．電子部品調達の基本的な考えかた
　　3.1 部品調達時の留意点
　　3.2 部品メーカとの連携の仕方

４．トラブルの未然防止のための信頼性試験
　　4.1 故障数と故障時間の関係を考える
　　4.2 信頼性試験による寿命の見極め方
　　4.3 電子部品単体での信頼性試験による寿命予測
　　4.4 電子機器での信頼性試験による寿命予測

【質疑応答】

※受講者の皆様の抱える疑問点や問題点について，セミナー開催3日前までに「事前リクエスト用紙」 （請求書に同封）や 「Eメール」 を御寄せ頂けましたら，講演中に対応させて頂きます。

セミナー講師

M.A信頼性技術オフィス 代表　本山 晃 氏

　　＜略歴＞
　　　　【元】 パナソニック㈱解析センター　主幹　
　　　　【元】 大阪大学 非常勤講師 （2012/9〜2015/3）

　　＜受賞歴＞
　　　　日本信頼性学会　特別賞（2010年），他多数

　　＜公職＞
　　　　 日本信頼性学会　関西支部顧問 ＜公職＞
　　　　　　　　　同 　　　　 信頼性試験研究会，故障物性研究会

セミナー受講料

1名につき55，000円（消費税込み，資料付）
〔1社2名以上同時申込の場合のみ1名につき49，500円〕

受講について

• 本講座はZoomを利用したLive配信セミナーです。セミナー会場での受講はできません。
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  録音・録画・複写・転載・配布・上映・販売等を禁止いたします。
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