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【締切】表面分析を活用した電子部品の不具合観察・解析と不良対策【LIVE配信】
開催日 |
13:00 ~ 17:00 締めきりました |
---|---|
主催者 | (株)R&D支援センター |
キーワード | 電子デバイス・部品 応用物理一般 分析・環境化学 |
開催エリア | 全国 |
開催場所 | 【WEB限定セミナー】※在宅、会社にいながらセミナーを受けられます |
電子部品不具合解析の実務経験に基づいて、
本質に迫るための試料作製と表面分析の勘所を解説!
※本セミナーはZOOMを使ったLIVE配信セミナーです。会場での参加はございません。
セミナー修了後、受講者のみご覧いただける期間限定のアーカイブ配信を予定しております。
セミナー講師
栗原光技術士事務所 栗原 光一郎 氏
セミナー受講料
49,500円(税込、資料付)
■ セミナー主催者からの会員登録をしていただいた場合、1名で申込の場合46,200円、
2名同時申込の場合計49,500円(2人目無料:1名あたり24,750円)で受講できます。
(セミナーのお申し込みと同時に会員登録をさせていただきますので、
今回の受講料から会員価格を適用いたします。)
※ 会員登録とは
ご登録いただきますと、セミナーや書籍などの商品をご案内させていただきます。
すべて無料で年会費・更新料・登録費は一切かかりません。
メールまたは郵送でのご案内となります。
郵送での案内をご希望の方は、備考欄に【郵送案内希望】とご記入ください。
受講について
配布資料
- 開催前日までにPDFにてお送りいたします。
無断転載、二次利用や講義の録音、録画などの行為を固く禁じます。
Zoomを使ったWEB配信セミナー受講の手順
- Zoomを使用されたことがない方は、こちらからミーティング用Zoomクライアントをダウンロードしてください。ダウンロードできない方はブラウザ版でも受講可能です。
- セミナー前日までに必ず動作確認をお願いします。
- 開催日直前にWEBセミナーへの招待メールをお送りいたします。当日のセミナー開始10分前までに招待メールに記載されている視聴用URLよりWEB配信セミナーにご参加ください。
セミナー趣旨
電子部品の不具合箇所の解析において、比較的身近なSEM/EDS/EPMAの原理・特徴、得手不得手を明らかにしながら、観察・分析で得られる情報量の最大化・高度化のためのポイント、および分析試料作製のポイントを説明いたします。
受講対象・レベル
- 新製品開発や不良対策に関わっている技術者・開発者
- 不具合解析や分析試料作製の実際ついて、理解を深めたい方
セミナープログラム
- SEMを使いこなし方
- 破断面だけの観察では情報が限られる
- 上(一方向)からだけの観察では本来見えるものも逃してしまう
- 加速電圧で見え方が全然違う
- スケールの信頼性を確かめ方
- EDS(EDX)を活用する
- 分析方法の得手不得手<EDSとWDS>
(主元素が目立って、微量成分は見えにくい) - 得られているX線情報は表面のピンポイントからではない
- 定量性・マッピングの精度を上げる方法
- 分析方法の得手不得手<EDSとWDS>
- EPMA(WDS/WDX)元素分析で補完
- 微量成分の高感度検出と定量性向上(EDSの欠点を補う)
- 線分析の活用<界面・境界の情報を得る>
- 分析箇所の特定と試料の鏡面研磨
- 観察/分析箇所(断面研磨箇所)の決定方法
- 分析・解析すべき試料の準備
- 樹脂に埋め込んで鏡面研磨
- 具体的研磨手順・方法
- SEM・EDSに基づく不良対策
- 様々な解析手段活用で総合的判断
- マイクロフォーカスX線透視像
- 超音波探傷/超音波イメージング
- その他
- 解析結果からの特許出願
キーワード:半導体,故障,解析,回路,分析,オンライン,WEBセミナー
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