【中止】～電子機器における～ 市場品質ロス削減のための信頼性試験法と耐用寿命予測の実際

電子機器の市場トラブルを少しでも少なくするため、
信頼性の基礎知識から同加速試験の設定法などを解説！

特にサンプルサイズと加速試験条件・試験時間の関係を詳細に紹介します

セミナー講師

本山　晃（もとや まあきら）氏　 　　　
M.A信頼性技術オフィス　代表  
＜略歴＞
　1977年4月　松下電工株式会社入社　綜合技術研究所配属
　2003年〜2012年　Panasonic株式会社　解析センター　主幹技師
　2013年4月〜2016年3月　大阪大学大学院　工学研究科　非常勤講師
　2014年11月　Panasonic株式会社　退職
　2015年 6月　M.A信頼性技術オフィス　設立  
＜学会・関連団体での活動＞
　日本信頼性学会　関西支部役員、広報委員
　日本信頼性学会　信頼性試験研究会幹事、故障物性研究会幹事
　JAXA　社外検討委員（2017,2018,2019年度）　

セミナー受講料

お1人様受講　55,000円[税別]
※実習セミナーのため、1口申し込みはございません

※スクリーニング条件の設定法やＭＴＢＦを保証するための試験法に加え、耐用寿命推定の事例演習をExcelで行いますので、ノートPCをご持参ください
※演習で解析した解析シートはお持ち帰り頂けます

セミナー趣旨

　近年、電子応用商品には小型化・省エネ化を目指して搭載部品レベルでも微細加工した部品や超薄型部品が搭載されています。一方、微細加工や薄膜素材の積層などでパターン間や素材間の電界強度が大きくなるため、市場でのトラブル増加が懸念されます。
　そこで、これらのトラブルをなくすために設計段階からFMEA・FMEAや製品の信頼性試験などを用いて不良ゼロを目指した活動がなされています。ところが、経済産業省やNITEなどに掲載のトラブル情報をみてみると、電子機器の市場トラブルはゼロになっているわけではありません。
　そこで、本セミナーではこれらの市場トラブルを少しでも少なくするために、信頼性の基礎知識から信頼性加速試験の設定の仕方、特にサンプルサイズと加速試験条件・試験時間の関係を詳細に紹介します。
　具体的には、まず市場トラブルがなぜ発生するのかその対応の仕方を紹介し、市場の故障は時間経過によってどのように変化していくかを紹介します。次に故障時間を早く知るために、温度や湿度、温度差や振動など様々な市場ストレスに対応する加速試験モデルを事例演習を含めて紹介していきます。　その結果、自社製品が市場使用環境で使われた期間に対する累積の故障確率を予測でき、また、その故障時間を製品の寿命目標値まで低減するための施策を提案できるようになります。

セミナープログラム

1　電子機器の市場におけるトラブル事例の紹介
2　信頼性の基礎と用語の解説
　　2.1　信頼性用語の意味・定義
　　2.2　市場故障数と故障時間の関係

3　早期の電子機器故障を防止するための試験法
　　3.1　初期故障を低減するためのスクリーニング手法
　　3.2　演習1：1年で100ppm以下にするスクリーニング条件設定事例
　　3.3　偶発故障での故障率λやMTBFを推定する試験方法
　　3.4　演習2：λ=200FITを保証する試験時間とサンプルサイズ設定事例
　　3.5　演習3：MTBF=200万時間を保証する試験時間とサンプル設定事例

4　耐用寿命を見極めるための具体的な加速試験
　　4.1　寿命予測に用いる加速モデルと信頼性試験
　　4.2　使用温度と耐用寿命の関係（温度加速モデルの寿命予測式）
　　4.3　演習4：10年寿命目標の製品の加速試験条件（温度、時間）の設定事例
　　4.4　温度差と耐用寿命の関係（修正コフィン・マンソンモデルの寿命予測式）
　　4.5　演習5：10年寿命目標の製品の加速試験条件（温度差、回数）の設定事例
　　5　耐用寿命を見極めるための具体的な加速試験
　　5.1　ストレスと疲労寿命の関係（SN曲線とマイナー則モデルの寿命予測式）
　　5.2　演習6：応力と耐用回数から故障する寿命の推定事例
　　5.3　製品の耐用寿命推定のプロセス

6　市場故障品の故障解析の実際
　　6.1　上手に市場故障品を解析する際のステップ（順序）
　　6.2　市場故障事例紹介
　　　6.2.1　コンデンサ（アルミ電解、フィルム、セラミック）の故障事例
　　　6.2.2　その他電子部品の故障事例

※演習の回答はその日にお渡しいたします