<ECTC2022での発表を解説>先端半導体パッケージング・実装技術の研究開発動向

最新の技術発表を、その特長・開発背景等を含めて解説
インターポーザ、チップレット、3D-IC/TSV、Cu-Cuハイブリッド接合等のプロセスと材料技術

◎昨年に続き2回目の開催。半導体後工程に関連した最新技術を扱う国際会議ECTC2022での発表を分かりやすくレビュー。
◎解説するテーマは、各種インターポーザ、チップレット、3D-IC/TSV、Cu-Cuハイブリッド接合等に関連したプロセス技術・材料技術です。先端パッケージング・実装技術の最新動向の把握、情報収集にお役立てください。
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    セミナー趣旨

     近年、特に話題を集める半導体後工程ですが、これに関連した数ある国際会議の中でも最も大きく最新の技術が発表されるのがECTC (Electronic Components and Technology Conference)です。
     今回のセミナーでは、半導体パッケージングの最新の動向を紹介し、2022年6月に終えたECTC2022の中から各種インターポーザ、チップレット、3D-IC/TSV、Cu-Cuハイブリッド接合等に関連したプロセス技術・材料技術の発表を中心にハイライトを行います。ECTC2022の総発表件数362件(ポスター110件含む)から60件以上の注目の発表をピックアップして解説する予定です。

    受講対象・レベル

    ◎半導体後工程(半導体パッケージング、半導体実装技術)に関する最新の研究発表の内容を知りたい方
    ◎今年オンサイトで行われたECTC2022に参加できなかった方
    ◎ECTC2023に投稿し2023年2月にfull paperを書く予定の方
    ◎この分野の動向や見どころ、方向性に関心のある方を主対象といたします。

    習得できる知識

    半導体パッケージング技術最大の国際会議ECTC、特に今回はECTC2022で発表された研究内容を多く取り上げ、関連する技術の背景や他の技術との比較も含めて、その特長や技術の進展について初心者でも分かりやすく説明します。

    セミナープログラム

    1. ECTCの紹介と最近の研究動向、および用語の説明
     1.1 ECTCの発表件数の推移や国別/研究機関別投稿状況
     1.2 3D-IC/TSV技術(Via-middle vs. Via-last, Wafer-on-Wafer vs. Chip-on-Wafer他)
     1.3 FOWLP(Fan-Out Wafer-Level Packaging)とCoWoS (Chip-on-Wafer-on-Substrate)
     1.4 チップレット

    2. RDLインターポーザ 9件
     2.1 Session 1: Advanced Packaging for Heterogeneous Integration and High Performance Computing
     2.2 Session 19: Advances in Fan-Out Panel Level Packaging
     2.3 Session 20: Enhancements in Fine-Pitch Interconnects, Redistribution Layers and Through-Vias
     2.4 Session 30: High-Speed Challenges in Power and Signal Integrity
     2.5 Session 31: Fan-Out Packaging Technologies and Applications
     2.6 Session 37: Interactive Presentation 1
     2.7 Session 39: Interactive Presentation 3
      
    3. Si Bridge 4件
     3.1 Session 13: Technologies for Heterogeneous Integration, Automotive and Power Electronics
     3.2 Session 14: Novel Bonding and and Stacking Technologies
     3.3 Session 15: Enhanced Methods & Processes for Heterogeneous Integration Assembly 

    4. 狭ピッチマイクロバンプ 2件
     4.1 Session 25: Advancements in 2.5D and 3D Packaging Technology
     4.2 Session 26: Soldered and Sintered Interconnections

    5. TSV/TGV 4件
     5.1 Session 4: Hybrid Bonding and Innovations for 3D Integration
     5.2 Session 27: Interconnection Reliability
     5.3 Session 34: Processing Enhancements in Fan-Out and Heterogeneous Integration

    6. ハイブリッド接合、直接接合 38件
     6.1 Session 4: Hybrid Bonding and Innovations for 3D Integration
     6.2 Session 5: Bonding Technology: Novel Assembly Methods and Processes
     6.3 Session 8: Hybrid and Direct Bonding Development and Characterization
     6.4 Session 12: Manufacturing and Assembly Process Modeling
     6.5 Session 14: Novel Bonding and and Stacking Technologies
     6.6 Session 16: Hybrid & Direct Bonding Innovation, Optimization & Yield Improvement
     6.7 Session 25: Advancements in 2.5D and 3D Packaging Technology
     6.8 Session 27: Interconnection Reliability
     6.9 Session 32: Advanced Interconnect and Wire Bond Technologies for Flexible Device Applications
     6.10 Session 37: Interactive Presentation 1
     6.11 Session 39: Interactive Presentation 3
     6.12 Session 40: Interactive Presentation 4

    7. その他 4件
     7.1 Session 2: High Performance Dielectric Materials for Advanced Packaging
     7.2 Session 7: Advanced Flip Chip and Embedded Substrate Technologies
     7.3 Session 5: Bonding Technology: Novel Assembly Methods and Processes
     7.4 Session 14: Novel Bonding and Stacking Technologies

    □ 質疑応答 □

    セミナー講師

    東北大学 大学院工学研究科 機械機能創成専攻 准教授 福島誉史 氏

    セミナー受講料

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    44,000円( E-mail案内登録価格41,800円 )
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    ※1名様でLive配信/WEBセミナーを受講する場合、上記特別価格になります。
    ※他の割引は併用できません。

    主催者

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    全国

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    • PDFテキスト(印刷可・著作権上の理由から講演スライドのうち、一部分のみの抜粋となります)

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    開催日時


    13:00

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