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パワーモジュール組立(封止・接合)技術と高熱伝導化
開催日 |
9:55 ~ 16:40 締めきりました |
---|---|
主催者 | 株式会社ジャパンマーケティングサーベイ |
キーワード | 半導体技術 |
開催エリア | 東京都 |
開催場所 | 東京都中央区立総合スポーツセンター 4F 第1・2会議室 |
省エネや環境問題などの意識の高まりにより、自動車の電動化や白物家電のインバータ化、 再生可能エネルギーへの転換が更に進むことが見込まれています。 それらに搭載されるパワーデバイス、特に、IGBTモジュールはSiC化による高温動作対応、 または、高寿命やメンテナンスフリーの観点から、より高い信頼性技術が求められています。 これらに寄与する高耐熱・高熱伝導・高信頼性接合の組立技術と部材の最新動向について、 各分野から講師をお招きしまして、詳細に解説して頂きます。
【講演テーマ/講師】
10:00~11:00
パワーモジュール向け高熱伝導・高信頼性窒化ケイ素基板 (仮)
東芝マテリアル株式会社 ファインセラミックス事業開発担当
那波 隆之 氏
11:00~12:30
高耐熱接合技術 - Cuナノ粒子接合など
大同大学 工学部 電気電子工学科
教授 博士(工学) 山田 靖 氏
12:30~13:10
昼食
13:10~15:10
パワーモジュールの高信頼性パッケージング技術
富士電機株式会社 電子デバイス事業本部 開発統括部
パッケージ開発部 先行開発課 池田 良成 氏
15:10~16:40
パワーデバイス用封止樹脂の高耐熱化 (仮)
横浜国立大学 リスク共生社会創造センター
客員教授 高橋 昭雄 氏
※各講演時間に5分程度の質疑応答を含みます。
【セミナープログラム】
1. パワーモジュール向け高熱伝導・高信頼性窒化ケイ素基板 (仮)
東芝マテリアル株式会社 那波 隆之 氏
2. Cuシンター材による高耐熱接合技術 (仮)
大同大学 山田 靖 氏
3. パワーモジュールの高信頼性パッケージング技術
富士電機株式会社 池田 良成 氏
4. パワーデバイス用封止樹脂の高耐熱化 (仮)
横浜国立大学 高橋 昭雄 氏
【受講料】
1名様 49,800円(税別)テキスト及び昼食を含む
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