FTIRの基礎と異物分析への実践応用テクニックとコツ・ノウハウ

セミナー趣旨

  赤外分光法は、その特徴からも主に有機化合物の化学構造や高次構造の解析手段として研究、開発され、今日では研究・開発だけでなく工場でのインライン評価などにも幅広く一般に使用されている。近年になって、ATR法を初めとした様々な測定法の開発や装置の改良等によって、従来困難であったような試料も容易に測定が可能となり、今日においてはなくてはならない基本的な測定手法としてその地位を確立している。
　ただ、測定が容易になった反面、とりあえず使うという状況が生まれて実際のサンプルや問題に直面した場合、どのように測定・解析を行っていけば良いかが分からないまま使用されていることも多い。しかし残念ながら、文献・教科書等では装置や測定法の原理は詳細に解説してあるものが多いが、そのアプリケーションとしての現場での活用に軸足を置いた解説を十分に行っているものは少ない。
　本講座は、赤外分光法の原理だけではなく、よりアプリケーション寄りの内容、実務での赤外分光法活用を中心とした。実際の分析操作やスペクトルの解釈、実際の分析において対象とすることの多い異物や混合物、様々な試料や目的への対応の方法、事例などについて、実務使用における測定技術や応用技術、コツ・ノウハウを解説する。

受講対象・レベル

・新入社員から中堅実務層
・若手中堅を教育するマネージャー
・FTIRの基礎から応用までを学びたい人
・異物分析のテクニックを知りたい人
・実践的知識とテクニックを修得したい人
   など
＊同業者の方（コンサルタント業等)・及び個人でのお申込みの場合、受講をお断りする場合がございますので、
   予めご了承下さい。

習得できる知識

・FTIRの基礎知識
・各種測定方法
・スペクトル解析の考え方
・スペクトルサーチのコツ
・異物分析テクニック

セミナープログラム

1.【赤外分光法の基本原理と特徴】
　1.1 赤外分光が見ているもの
　1.2 分光分析における吸収の定義
　1.3 赤外分光の波長領域
　1.4 赤外分光分析
　1.5 振動モード
　1.6 気体と液体・固体
　1.7 赤外分光法発展の歴史
　1.8 赤外分光法の長所・短所
　1.9 赤外分光法による評価
　1.10 主な検出器
2.【代表的な測定法】
　2.1 透過法
　2.2 全反射法（ATR）
　　2.2.1 ＡＴＲ法のバリエーション
　　2.2.2 ＦＴＩＲ－ＡＴＲにおける測定深さ
　　2.2.3 ATR法における注意点
　　2.2.4 ATR補正
　　2.2.5 異常分散によるスペクトルへの影響
　　2.2.6 様々なATRアタッチメント
　2.3 反射法
　2.4 拡散反射法
　2.5 顕微赤外
3.【赤外スペクトル】
　3.1 赤外スペクトルの概要
　3.2 主な振動モード
　3.3 主な吸収帯
　3.4 主な有機系官能基の吸収帯
　3.5 イオン性官能基の吸収帯
　3.6 周辺環境の影響
　3.7 赤外分光の構造敏感性
　3.8 指紋領域の利用
　3.9 カルボニル基の判別
　3.10 スペクトルサーチ
　3.11 ヒットスコアの罠
　3.12 検索結果の間違い例
　3.13 スペクトルサーチのコツ
　3.14 系統解析
　3.15 帰属の考え方
　3.16 ラマン分光法との対比
4.【定量分析】
　4.1 検量線法の考え方
　4.2 検量線法が適用困難なケースと対処法
　4.3 ピーク強度比法
　4.4 誤差要因
5.【大気成分補正】
6.【測定条件】
7.【スペクトル処理】
　7.1 ベースライン補正
　7.2 スムージング・補間
　7.3 自動処理の注意点
8.【混合物の解析】
　8.1 混合物スペクトルの解析
　8.2 ピーク分離
　8.3 差スペクトル
　8.4 ATR法の差スペクトル
　8.5 組み合わせ解析
9.【異物・微小部】
　9.1 顕微赤外分光法
　9.2 マイクロサンプリング法
10.【汚染・付着物】
11.【異物分析】
　11.1 サンプリング前の観察
　　11.1.1 ファーストチョイス
　　11.1.2 異物の観察
　　11.1.3 特異点
　11.2 サンプリングの基本とコツ
　11.3 埋もれた異物のサンプリング
　11.4 サンプリング後の測定
　11.5 黒色試料
12.【高次構造（結晶構造解析・融解等）】
13.【FTIRにおける注意点】
　13.1 ATRにおける異常分散
　13.2 試料変形の影響
　13.3 試料配置の影響
　13.4 押し圧の影響
　13.5 KBｒ錠剤法における反応
　13.6 粉砕粒度の影響
　13.7 表面研磨
　13.8 偏光と試料傾斜による干渉縞抑制
　13.9 プレスホルダーによる測定
14.【事例―実際の測定スペクトルを例として―】
　14.1 フィルム上汚染
　14.2 ポリイミドの表面処理層の深さ方向分析
15.【実例―より詳細に豊富なデータを交え―】
　15.1 Ａｌ基板上のシミ分析
　15.2 シミの官能基イメージ
　15.3 顕微赤外を用いたＰＰフィルム中異物の分析
　15.4 マイクロサンプリング法による測定
　15.5 基板上の付着物の分析
　15.6 フィルム上の付着物の分析
　15.7 付着物のマススペクトル
　15.8 塗膜ハジキの分析
　15.9 マイクロ抽出法による分離分析
　15.10 PET/エポキシのIRスペクトル
　15.11 薬液中の浮遊物の分析
　15.12その他のコツ・ポイント
16.【まとめ】
17.【質疑】

※本セミナーは、Zoom ミーティング で行います。
※本セミナーでは、受講者のカメラは原則 on にてお願いを致しております。

セミナー講師

 奥村 治樹 先生   ジャパン・リサーチ・ラボ 代表 ／大阪産業大学 情報システム学科 非常勤講師 博士（工学）　

セミナー受講料

1名47,300円(税込（消費税10％）、資料付)
＊1社2名以上同時申込の場合、1名につき36,300円
＊学校法人割引；学生、教員のご参加は受講料50％割引。

【セミナー受講特典コンサルティング】
　セミナーを受講頂いた方への特典サービスとして、初回限定で特別料金にてコンサルティングをご利用いただけます。技術的な相談はもちろん、戦略相談、オンサイトセミナーなど、依頼条件を満たす限り原則として実施内容、方法に制限はありません。
　技術コンサルティングには興味があるが利用したことがないので、どのようなものか良くわからず正式依頼に踏み切れない、決裁を取るために一度ディスカッションしたいという方は、是非この機会に、JRLのコンサルティングを御体験ください。限定特典ではありますが、必ず満足のいただける内容でお応えします。

＜依頼条件＞
・初回1回のみ
・セミナー実施日より3カ月以内に依頼が成立
・費用：場所、内容によらず定額の限定特別料金

受講について

※本講座は、お手許のPCやタブレット等で受講できるオンラインセミナーです。

配布資料・講師への質問等について

• 配布資料は、印刷物を郵送で送付致します。
  お申込の際はお受け取り可能な住所をご記入ください。
  お申込みは4営業日前までを推奨します。
  それ以降でもお申込みはお受けしておりますが（開催1営業日前の12:00まで）、
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• 当日、可能な範囲で質疑応答も対応致します。
  （全ての質問にお答えできない可能性もございますので、予めご容赦ください。）
• 本講座で使用する資料や配信動画は著作物であり、
  無断での録音・録画・複写・転載・配布・上映・販売等を禁止致します。

下記ご確認の上、お申込み下さい

• PCもしくはタブレット・スマートフォンとネットワーク環境をご準備下さい。
• ご受講にあたり、環境の確認をお願いしております（20Mbbs以上の回線をご用意下さい）。
  各ご利用ツール別の動作確認の上、お申し込み下さい。
• 開催が近くなりましたら、当日の流れ及び視聴用のURL等をメールにてご連絡致します。

Zoomを使用したオンラインセミナーとなります

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