FT-IR測定・同定の実際とアプリケーションテクニック・コツ【Live配信】
開催日 |
10:30 ~ 16:30 締めきりました |
---|---|
主催者 | サイエンス&テクノロジー株式会社 |
キーワード | 分析・環境化学 高分子・樹脂技術 高分子・樹脂材料 |
開催エリア | 全国 |
開催場所 | Live配信セミナー(リアルタイム配信) ※会社・自宅にいながら学習可能です※ |
実務での赤外分光法活用を中心に解説!
<現場実務で役立つ・使える>
FT-IR(フーリエ変換赤外分光法)の原理、各種測定方法等の
基礎的な知識から実務使用における測定技術や応用技術、ノウハウまでを徹底解説!
セミナー講師
ジャパン・リサーチ・ラボ 代表 博士(工学) 奥村 治樹 氏
セミナー受講料
※お申込みと同時にS&T会員登録をさせていただきます(E-mail案内登録とは異なります)。
49,500円( E-mail案内登録価格46,970円 )
E-Mail案内登録なら、2名同時申込みで1名分無料
2名で 49,500円 (2名ともE-mail案内登録必須/1名あたり定価半額24,750円)
【1名分無料適用条件】
※2名様ともE-mail案内登録が必須です。
※同一法人内(グループ会社でも可)による2名同時申込みのみ適用いたします。
※3名様以上のお申込みの場合、1名あたり定価半額で追加受講できます。
※受講券、請求書は、代表者に郵送いたします。
※請求書および領収証は1名様ごとに発行可能です。
(申込みフォームの通信欄に「請求書1名ごと発行」と記入ください。)
※他の割引は併用できません。
※テレワーク応援キャンペーン(1名受講)【Live配信/WEBセミナー受講限定】
1名申込みの場合:35,200円 ( E-mail案内登録価格 33,440円 )
※1名様でLive配信/WEBセミナーを受講する場合、上記特別価格になります。
※他の割引は併用できません。
特典
【セミナー受講特典コンサルティング】 ※ コンサルティング料は受講料とは別になります。
セミナーに受講して名刺交換をさせて頂いた方への特典サービスとして、初回限定で限定特別料金にてコンサルティングをご利用いただけます。技術的な相談はもちろん、戦略相談、オンサイトセミナーなど、依頼条件を満たす限り原則として実施内容、方法に制限はありません。
技術コンサルティングには興味があるが利用したことがないので、どのようなものか良くわからず正式依頼に踏み切れない、決裁を取るために一度ディスカッションしたいという方は、是非この機会に、JRLのコンサルティングを御体験ください。限定特典ではありますが、必ず満足のいただける内容でお応えします。
<依頼条件>
・初回1回のみ
・セミナー実施日より3カ月以内に依頼が成立
・費用:内容によらず定額の限定特別料金
受講について
ZoomによるLive配信
- 本セミナーはビデオ会議ツール「Zoom」を使ったライブ配信セミナーとなります。
- お申し込み後、接続確認用URL(https://zoom.us/test)にアクセスして接続できるか等ご確認下さい。
- 後日、別途視聴用のURLをメールにてご連絡申し上げます。
- セミナー開催日時に、視聴サイトにログインしていただき、ご視聴ください。
- リアルタイムで講師へのご質問も可能です。
- タブレットやスマートフォンでも視聴できます。
配布資料
- 製本テキスト(開催前日着までを目安に発送)
※セミナー資料はお申し込み時のご住所へ発送させていただきます。
※開催まで4営業日~前日にお申込みの場合、セミナー資料の到着が開講日に間に合わない可能性がありますこと、ご了承下さい。
翌月開催予定セミナー「分析におけるスペクトル解析の基本から応用テクニック」とセット受講が可能です。
セットお申込みについては右記をご参照下さい ⇒ 2月3日/3月2日開講『FT-IR・スペクトル解析 実践テクニックを身に付けるための2日間講座』
2日間講座にすることで、まずFT-IRの活用方法を学び、その後にFT-IRやXPS(X線光電子分光)等の各種分光分析におけるスペクトル解析のテクニックやノウハウを教えることで、受講者の理解をより深めることを狙っています。FT-IRに限らず分光分析を使った業務を手掛ける方、FT-IRのみに関心がある方でも特にスペクトル解析について知りたいという方は、2日間の受講がおすすめです。
【2日間講座の受講を検討するにあたっての注意事項】
セット申し込み対象セミナー(分析におけるスペクトル解析の基本から応用テクニック)においてもスペクトル解析に関しては講師に解説頂く予定です。本セミナーは、より深くFT-IRについて学べる内容となっておりますが、セット申し込み対象セミナー間で内容が一部重複しますこと、ご了承下さい。
セミナー趣旨
赤外分光法は、その特徴からも主に有機化合物の化学構造や高次構造の解析手段として研究、開発され、今日では研究・開発だけでなく工場でのインライン評価などにも幅広く一般に使用されている。近年になって、ATR法を初めとした様々な測定法の開発や装置の改良等によって、従来困難であったような試料も容易に測定が可能となり、今日においてはなくてはならない基本的な測定手法としてその地位を確立している。
しかし、実際のサンプルや問題に直面した場合、どのように測定・解析を行っていけば良いかは依然重要である。しかし残念ながら、文献・教科書等では装置や測定法の原理は詳細に解説してあるものが多いが、そのアプリケーションとしての解説を十分に行っているものは少ない。
本講座は、赤外分光法の詳細で専門的な原理ではなく、よりアプリケーション寄りの内容、実務での赤外分光法活用を中心とした。実際の分析操作やスペクトルの解釈、実際の分析において対象とすることの多い異物や混合物、様々な試料や目的への対応の方法、事例などについて、実務使用における測定技術や応用技術、ノウハウを解説する。
受講対象・レベル
- 企業等の分析部門、大学等の分析センター、公設試験センターの担当者、リーダー等
- 研究開発部門、研究機関の担当者、リーダー等
- その他、技術部門全般
大変申し訳ございませんが、講師とご同業(経営・人事研修・技術コンサルタント、またはこれに類する事業を手掛けている等)の方のご参加はお断り申し上げます。
習得できる知識
- 赤外分光法の各種測定法
- アタッチメント特徴と測定技術
- 様々な試料・目的に合わせた測定法
- スペクトル処理・解釈の考え方
- 混合物解析の実際の手順
- 赤外分光法を用いた問題解決の手順
セミナープログラム
- 赤外分光法の基本原理と特徴
- 赤外分光が見ているもの
- 分光分析における吸収の定義
- 吸収スペクトルと吸光度スペクトル
- 赤外分光の波長領域
- 振動モード
- 気体と液体・固体
- 赤外分光法発展の歴史
- 赤外分光法の長所・短所
- 主な検出器と特徴
- 代表的な測定法
- 透過法
- 全反射法(ATR)
- ATR法のバリエーション
- ATR結晶(IRE)の特性
- FTIR-ATRにおける測定深さ
- ATR法における注意点
- ATR補正
- 異常分散によるスペクトルへの影響
- 様々なATRアタッチメント
- 毒劇物としてのATR結晶(IRE)
- 反射法
- 拡散反射法
- 光音響分光法(PAS)
- ガスセル
- 主な測定法のまとめ
- 顕微赤外
- ラマン分光法との対比
- 赤外スペクトル
- 赤外スペクトルの概要
- 主な吸収帯
- 指紋領域の利用
- カルボニル基の判別
- スペクトルサーチ
- スペクトルデータベース
- 代表的検索アルゴリズム
- 検索アルゴリズムの限界
- ヒットスコアの罠
- 検索結果の間違い例
- スペクトルサーチのコツ
- 差スペクトル
- 混合解析
- オープンライブラリ
- 系統分析
- 帰属の考え方
- 定量分析
- 検量線法
- ピーク強度比法
- 内標準法
- 誤差要因
- 大気成分補正
- 測定条件と誤差要因
- スペクトル処理
- ベースライン補正
- スムージング・補間
- ベースライン(ピーク強度)
- ピーク高さと面積
- 自動処理の注意点
- 混合物の解析
- 様々な試料
- バルク
- フィルム
- 紛体
- 液体
- 異物・微小部
- 繊維
- 汚染・付着物
- 黒色試料
- 高次構造
- 結晶解析
- 融解
- 水素結合
- バルク(全体平均)分析
- 角度変化法
- 温度変化測定
- FTIRにおける注意点
- ATRにおける異常分散
- ATRにおける試料変形の影響
- ATRにおける試料の置き方の影響
- ATRにおける押し圧の影響
- KBrと試料との反応
- KBr錠剤法の粉砕粒度の影響
- 表面研磨、偏光と試料傾斜による干渉縞抑制
- プレスホルダーによる干渉縞抑制
- 事例
- フィルム上汚染
- Pi/Cu/Si界面の解析
- 時間分解測定
- 仮説思考による研究開発と問題解決
- 質疑