セミナーに関する質問

ご質問を下記に記入していただければ、至急調査してお応えします。（営業時間　平日9時から18時）

参加セミナー名 【中止】半導体前工程における製造効率向上に資するプラズマプロセスモニタリング・診断技術 ～不良発生の抑止及び予知保全、メンテナンス費用の削減や装置機差の低減に資する技術について～
開催日 10:30 ～ 16:30
開催場所 お好きな場所で受講が可能