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主催者 | サイエンス&テクノロジー株式会社 |
キーワード | 機械学習・ディープラーニング AI(人工知能) |
開催エリア | 東京都 |
開催場所 | 【港区】芝エクセレントビル B1F KCDホール |
交通 | 【地下鉄】大門駅 【JR・モノレール】浜松町駅 |
人工知能技術の基盤となる統計的な分類手法を解説
データ分類の基礎となるデータ間の類似性の考え方
サポート・ベクトル・マシンの理論と応用
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確率的な考え方(ベイズ推定)の基本
セミナー講師
セミナー受講料
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セミナー趣旨
本セミナーは、現在の人工知能技術の基盤となる統計的な分類手法について解説し、人工知能の「中身」を理解していただくことを目的としています。
セミナープログラム
1.人工知能技術とパターン認識
・人工知能技術の大まかな歴史
2.パターンの表現と距離尺度/類似度
・距離尺度
・距離と類似度(非類似度)
3.基本的なパターン認識処理:最近傍法
・最近傍法
・k-NN (k-Nearest Neighbor)
4.確率分布
・ベイズ推定
・事後確率による識別
・最尤法(多変量正規分布の場合)
・最尤法(2クラス識別問題)
5.識別問題の例
・パターン認識の簡単な例
・教師あり学習
6.線形識別手法
・ベイズ推定から線形識別手法へ
・線形判別関数
7.識別面のマージン最大化とサポート・ベクトル・マシン
・正しく識別できる場合の損失関数は?
・線形分離可能の場合の最適な識別面
・マージン最大化(評価関数)
・サポート・ベクトル・マシン(SVM)
8.非線形識別手法とカーネル法
・非線形識別手法
・高次元化による非線形識別:カーネル法
9.代表的な画像特徴
10.SVMの応用例:笑顔度の検出
・笑顔度の検出
・事後確率から笑顔度へ
・笑顔度推定器のデモ
11.深層学習とSVM(まとめに代えて)
□質疑応答□