個別半導体車載認定規格：AEC-Q101,AQG324,JEITA ED-4711を中心とした信頼性認定ガイドライン

AEC-Q101に準拠した試験を実施する場合の留意点や
問題点、対応方法について概説します 

車載用集積回路認定ガイドラインの動向、各種信頼性試験の必要性と
問題点のほか、知っておくべき国際規格についても解説

　EV/HEV 向けに個別半導体、特にパワーデバイスの需要は今後、飛躍的に伸びることが
予測されています。パワーデバイスは、大きな電流、急激な温度変化など、
通常の半導体デバイスとは異なるストレスの影響を受け、その信頼性をいかに保証するかが
重要な課題となっています。　
　個別半導体の信頼性認定ガイドラインとしては、米国ビッグ3が中心になって策定され、
今や世界標準になっているAEC-Q101があります。AEC-Q101 は、車載用個別半導体を
認定するための信頼性試験規格で、必要サンプル数の多さや試験時間の長さから評価コストが
膨大になるという問題があります。その一方で、日本発の車載認定ガイドラインとして
JEITA ED-4711 が2016年に発行され、現在、IECへ提案し国際標準化を進めています。
　本セミナーでは、AEC-Q101に準拠した試験を実施する場合の留意点と、問題点、
対応方法について概説します。また、今後IEC化される日本版のAEC-Q101 規格EDR-4711 について、
考え方、使い方について詳細に説明します。
　更に、車載用半導体を製造、販売するにあたって知っておくべき国際規格として、
品質システムではIATF16949、工程監査ではVDA6.3 等の規格があり、独AQG324 等も
注目されています。これらの車載用集積回路認定ガイドラインの動向、各種信頼性試験の必要性と
問題点と知っておくべき国際規格についても、半導体メーカの立場から詳細に解説致します。

【講師】

瀬戸 屋孝（せとや たかし）氏
東芝デバイス＆ストレージ株式会社　品質統括責任者 　
JEITA 半導体信頼性技術委員会　主査
＜略歴＞　 　
1983年東芝入社　以降半導体の品質、信頼性業務に従事
2013年より現職。JEITA　半導体標準化技術専門委員会　委員長、
JEITA 信頼性技術委員会　主査、日科技連　信頼性品質技術研究会　副委員長、
RCJ（日本電子部品信頼性センター）　理事

【プログラム】

1　パワーデバイスの市場動向
　　1.1　パワーエレクトロニクスとパワーデバイス
　　1.2　パワーデバイスの応用範囲
　　1.3　高耐圧化と低オン抵抗化の要求

2　車載用半導体に要求される信頼性
　　2.1　信頼性試験の目的
　　2.2　信頼性試験の種類と役割
　　2.3　個別半導体特有の故障モードと加速性
　　2.4　パワーサイクル試験法と不良モード

3　個別半導体の認定ガイドラインの説明　
　　3.1　AEC-Q101の内容と考え方
　　　＊試験の進め方、条件、問題点　
　　3.2　JEITA ED-4711の内容と考え方
　　　＊品質保証の考え方、サンプル数、試験条件の考え方
　　3.3  国際標準化の状況について

4　＊IAFF16949、VDA6.3、ISO26262、AQG324等の規格概説
5　国際規格の動向
　　5.1　AQC-Q101、AQG324等国際車載規格の動向
　　5.2　国内の規格作成動向と国際規格化の動向

受講料

お1人様受講の場合　46,000円[税別]／1名
1口でお申込の場合　57,000円[税別]／1口（3名まで受講可能）
受講申込ページで2～3名を同時に申し込んだ場合、自動的に1口申し込みと致します。