パワーデバイスの耐熱・耐湿性評価と国際規格動向

 EV/HEV向けにパワーデバイスの需要は今後、飛躍的に伸びることが予測されています。パワーデバイスは、大きな電流、急激な温度変化など、通常の半導体デバイスとは異なるストレスの影響を受け、その信頼性をいかに保証するかが重要な課題となっています。品質や信頼性を保証するには特別な評価方法、 確認方法が不可欠ですが、国際試験規格は膨大な評価サンプルが必要になるなどの問題もあります。一方、日本からは車載認定ガイドラインを国際標準化する動きも出てきています。

 本セミナーでは、パワーデバイスの動向をはじめに、信頼性試験の目的と役割、耐熱性・耐湿性評価やそのための試験法を中心に、その最新動向を、わかりやすく、かつ詳細に解説します。

【講師】


瀬戸屋孝(せとやたかし)氏  東芝デバイス&ストレージ株式会社 品質統括責任者 /JEITA 半導体信頼性技術委員会 主査


【プログラム】


 1 パワーデバイスの市場動向


  1.1 パワーエレクトロニクスとパワーデバイス
  1.2 パワーデバイスの応用範囲
  1.3 高耐圧化と低オン抵抗化の要求


 2 信頼性試験の種類と役割


  2.1 信頼性試験の目的
  2.2 信頼性試験の種類と役割
  2.3 耐湿性試験法と加速性
  2.4 静電気破壊と過電圧破壊


 3 パワーデバイス特有の不良モードと試験法


  3.1 パワーデバイスの主な故障モード 
  3.2 パワーデバイスの主な市場故障モード分類 
  3.3 車の各部位と到達温度
  3.4 パワーサイクル試験法と不良モード


 4 パワーデバイスの国際試験規格動向


  4.1 AEC-Q100/101の紹介
  4.2 LV-324/AQG-324 の紹介
  4.3 JEITA ED-4701/600の紹介
  4.4 今後のパワーデバイス信頼性試験法の規格動向


 質疑応答


【受講料】


・お1人受講の場合 46,000円[税別]/1名
・1口でお申込の場合 57,000円[税別]/1口(3名まで受講可能)


 受講申込ページで2~3名を同時に申し込んだ場合、自動的に1口申し込みと致します。