表面・界面分析手法の基礎と実務への活用

X線光電子分光、赤外・ラマン散乱、和周波発生分光法、電子顕微鏡、など

表面の何を知りたいか？ どんな手法が最適で何がわかるのか？
実際の分析事例をもとにわかりやすく解説する！

講師

(国研) 産業技術総合研究所 ナノ材料研究部門
主任研究員　博士（理学） 宮前 孝行 氏

【ご専門】 表面科学、物性化学

受講料

■ R&D会員登録していただいた場合、通常1名様申込で49,980円（税込）から
・1名で申込の場合、47,250円（税込）へ割引になります。
・2名同時申込で両名とも会員登録をしていただいた場合、計49,980円（2人目無料）です。

(まだR&D会員未登録の方は、申込みフォームの通信欄に「会員登録情報希望」と記入してください。詳しい情報を送付します。ご登録いただくと、今回から会員受講料が適用可能です。)

受講対象・レベル

分析、開発業務に携わる企業技術者、研究者

必要な予備知識

特に予備知識は必要ありません。基礎から解説いたします

習得できる知識

・表面分析における試料準備や適切な前処理、データ解析技術を習得できる
・誤った測定事例に基づき、データ取り扱いや解析における時の注意点を習得できる
・異なった視点からの表面の情報取得に関する知識を得ることができる

趣旨

　表面的に物を見る、という言葉は決して良い意味で使われない言葉です。しかし実のところ表面は多彩な形態や機能を持ち、材料自身とは全く異なる特有の性質を示すこともあります。現在、電子分光や光を使った手法、プロープ顕微鏡や放射光など表面分析を行うものとしては各種の分析手法がありますが、表面の何を調べるのかで最適な計測手法は異なります。
　表面の何を知りたいか？ を出発点として、表面を調べるにあたって、どんな手法が最適で何がわかるのか？ を、実際の分析事例をもとに解説していきます。
　理想的な系で得られるデータだけでなく、実際測定しようとしている部材に適用する際の注意点や、解析における注意点、表面と界面の違いなどを紹介いたします。また、表面・界面に存在する分子の情報を選択的に取得する手法としての和周波分光についての解説も行います。

プログラム

１．表面を調べるにあたって
　1.1　表面の何を調べるのか
　1.2　物理的情報と化学的情報の区分
　1.3　空間分解能と深さ方向分解能
　1.4　試料の形状と測定に必要な条件

２．電子を使った表面分析
　2.1　X線光電子分光
　2.2　オージェ電子分光
　2.3　紫外光電子分光
　2.4　電子分光における注意点

３．光を使った表面分析
　3.1　分子情報を取得する方法　-赤外・ラマン散乱
　3.2　和周波発生分光法
　3.3　可視・紫外光を使った分光計測手法

４．プローブ顕微鏡、電子顕微鏡

５．物性計測
　5.1　接触角、表面張力測定
　5.2　吸着状態の評価　-昇温脱離法

６．表面の何を調べるのか？
　6.1　試料の前処理
　6.2　定量評価と定性評価
　6.3　分子配向
　6.4　表面、界面反応
　6.5 「表面」と「界面」は同じ？ 違う？

７．まとめ

 【質疑応答・名刺交換】

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