~200mm→300mm時代の装置進化・トラブル解決・ハイブリッド接合最前線~
※オンライン会議アプリzoomを使ったWEBセミナーです。ご自宅や職場のノートPCで受講できます。
【アーカイブ配信:9/10(木)~9/24(木)】での受講もお選びいただけます。

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    セミナー趣旨

     CMP(化学機械研磨)は、微細化と多層配線化を支える平坦化技術として量産に定着し、近年はハイブリッド接合をはじめとする先端パッケージの接合品質を左右する基盤技術として、その重要性を一段と増しています。一方でCMP装置は、消耗品・回転体・薬液供給が絡む複雑な装置であり、「装置は正常なのにレートがおかしい」といった、カタログや仕様書には載らないトラブルが現場では頻発します。
     本セミナーでは、DRAM製造現場で20年(うちCMP15年)にわたり装置を運用してきた講師が、200mm→300mm時代の装置進化の要点、パッド・スラリー・終点検知などコア技術の管理手法、実例に基づくトラブルシューティングの「型」、そしてCMP後洗浄の設計と実務までを一気通貫で解説します。
     さらに、CMPが品質を決めるハイブリッド接合(ボンディング)の最前線と関連装置を概説し、装置技術の知見が今後どこで活きるのかを示します。過剰な表現を避け、データと実機事例に基づいた「現場で使える」知見の共有を目指します。

    受講対象・レベル

    ◎半導体デバイス・装置・材料(スラリー/パッド/薬液/部材)メーカーで、CMP関連業務に携わる新人~中堅技術者の方
    ◎CMP装置の運用・保全・プロセス開発をご担当の方
    ◎ハイブリッド接合など先端パッケージとCMPの関わりを知りたい方
    ◎大学・研究機関で平坦化・接合技術を研究されている方

    必要な予備知識

    特に予備知識は必要ありません。基礎から解説いたします。
    (半導体前工程の流れを概略でもご存知ですと、より理解が深まります)

    習得できる知識

    ◎200mm/300mm時代のCMP装置構成の違いと技術進化を説明できる
    ◎パッド・スラリー・終点検知(EPD)の管理手法と実務トラブル対策を習得できる
    ◎CMP後洗浄の設計思想と、パーティクル・Cu腐食防止の実務対策を習得できる
    ◎フュージョン/ハイブリッド接合の種類・プロセスと関連装置構成の概要を理解できる
    ◎「装置は正常なのにレートが変」など、カタログに載らないトラブル切り分けの考え方が身につく

    セミナープログラム

    1.CMP工程の基礎と200mm→300mm装置進化
     1-1.CMPとは ― 目的と研磨機構
     1-2.200mm時代のCMP(概要)
     1-3.装置の世代ロードマップと200mm装置(研磨部・インライン洗浄のセル構成)
     1-4.200mm→300mm装置の比較と進化の鍵(ヘッド多ゾーン化・搬送/生産性)
     1-5.300mm装置の構成(研磨部・後処理部・リアルタイムプロファイル制御)
     1-6.大口径化がもたらした技術課題とまとめ

    2.CMP成立のコア技術(パッド・スラリー・終点検知)
     2-1.CMPの第一原理(Prestonの式と面内不均一)
     2-2.研磨パッド(種類・溝形状・ドレッサ・寿命の見極め)
     2-3.スラリー(膜種別の設計・選定ロジック、砥粒選定・沈殿対策)
     2-4.研磨ヘッド(メンブレン・リテーナリングと圧力分布)
     2-5.終点検知EPD(膜種別の検出原理と波形の読み方)

    3.CMPトラブルシューティング実践(事例中心)
     3-1.トラブル対応の進め方(現象→切り分け→根本原因→対策→水平展開)
     3-2.装置起因トラブル事例(研磨ユニット系/搬送系/洗浄・乾燥系/薬液供給系)
     3-3.レート監視と規格管理
     3-4.スクラッチ ― 形と分布から真因を絞る
     3-5.改善事例:Cuボイド低減と知見の水平展開

    4.CMP後洗浄の設計と実務
     4-1.後洗浄の設計思想と方式比較(ブラシ・メガソニック・乾燥)
     4-2.後洗浄薬液のchemistry(pHとゼータ電位)
     4-3.パーティクル対策とCu腐食防止の両立
     4-4.乾燥とウォーターマーク

    5.ボンディング技術の概要と関連装置
     5-1.なぜ接合が必要になったのか ― CMPが決める接合品質
     5-2.接合方式の種類(W2W/D2W、フュージョン/ハイブリッド)
     5-3.関連装置(エッジトリム・アライメント・バックグラインド)
     5-4.ハイブリッド接合プロセスの流れと接合装置
     5-5.接合の検証とピッチ微細化ロードマップ・最新動向

    6.まとめ・質疑応答


    キーワード:
    CMP(化学機械研磨),半導体製造プロセス,ハイブリッド接合,CMP装置,CMP後洗浄

    セミナー講師

    ETSC Consulting 代表
    奥山 林明氏

    【ご専門】
    半導体前工程の装置技術(CMP・WET洗浄・Cuめっき・アッシャー)

    【ご経歴等】
    2005年 エルピーダメモリ(株)入社。DRAM製造の設備技術者として、WET洗浄・Cuめっき・CMP装置を担当。
    2015年 マイクロンによる買収に伴いマイクロンメモリジャパン(株)へ。WET/CMP主任設備エンジニアとして装置の管理・最適化・シフト運用に従事。消耗品ローカル化によるコスト削減(年約20%)、Cuボイド改善などの実績。
    2025年9月 ETSC Consulting を設立し独立。半導体設備(WET/CMP/Cuめっき/アッシャー)の業務改善・コスト削減・技術支援、技術セミナー講師として活動中。
    DRAM製造現場 通算20年(Cuめっき/WET洗浄 各20年・アッシャー18年・CMP15年)。

    セミナー受講料

    49,500円(税込、資料付)
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