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5G、ミリ波レーダー向け低損失基板、部品の信頼性向上に向けて!
セミナープログラム
【10:00-15:15】
1.ソルダーレジストの材料、プロセスと高周波対応
長岡技術科学大学 河合 晃 氏
【講演趣旨】
高周波対応(5G移動体無線、ミリ波)のソルダーレジストは、今後の高周波用プリント基板の機能性向上、およびモバイル通信分野における重要技術の一つです。本セミナーでは、ソルダーレジストに係る技術課題、プロセス改善等に注目し、詳細に解説します。また、高周波用のプリント基板、鉛フリーはんだ、アンダーフィル、銅配線、マイクロチップ実装、信頼性・寿命評価等の周辺技術も学べます。初心者の方でもわかりやすく解説します。また、受講者が抱える日頃のトラブルや技術開発に関するご相談も個別に対応します。
【プログラム】
1. 高周波(5G、ミリ波)対応のプリント基板技術(高周波通信対応の基礎知識)
1.1プリント基板構造の基礎(高周波対応へ向けてのトレンド)
1.2 材料に求められる性質(誘電性、耐熱性、熱伝導性、表皮効果)
1.3 低誘電率、低誘電(損失)正接とは(シグナル応答、劣化、伝達マッチング)
1.4 Cu配線技術(接着性、シランカップリング処理)
2.ソルダーレジストの材料とプロセス(高周波対応における最適化)
2.1 ソルダーレジストの役割(保護膜、環境耐性、はんだ耐性)
2.2 アルカリ可溶型、UV硬化型、熱硬化型(形状精度、量産性)
2.3 コーティング/乾燥方法(スクリーン印刷、静電スプレー、カーテン、乾燥炉)
2.4 トラブル欠陥対策(ピンホール、膜厚むら、乾燥むら、気泡、白化)
3.プリント基板の周辺技術(高周波対応に向けたトレンド)
3.1 鉛フリーはんだ技術(BGA、フラックス、気泡ボイド、付着性)
3.2 アンダーフィル技術(コート性、濡れ性)
3.3 マイクロチップの実装技術
4.信頼性・耐久性・寿命試験
4.1 不良要因(絶縁破壊、活性化エネルギー、マイグレーション)
4.2 不良率(バスタブ曲線、初期故障、偶発故障、摩耗故障)
4.3 ワイブル分布(最弱リンクモデル)
4.4 耐久性・寿命(加速試験、加速係数)
5.質疑応答(日頃の技術相談、トラブル相談に個別に応じます)
【15:30-17:00】
2.5G時代に向けての基板・実装材料の設計技術
東レ(株) 富川 真佐夫 氏
【講座概要】
5G通信やミリ波レーダーの技術開発動向を簡単にまとめる。またこれらに必要となる低誘電率・低誘電損失樹脂についての現状を整理するとともに、耐熱性や接着性に優れるポリイミドの低誘電率化、低誘電損失化検討について紹介する。
【プログラム】
1.東レの概要
2.低誘電・低誘電損失樹脂の状況
3.5G通信に向けた材料開発
3.1 電子部品用途シート材料
3.2 半導体実装材料
3.3 熱伝導性材料
3.4 エレクトロコーティング材料
3.5 低誘電・低Tanδ材料
【質疑応答】
セミナー講師
1.長岡技術科学大学 電気電子情報工学専攻 電子デバイス・フォトニクス工学講座 教授 博士(工学) 河合 晃 氏
2.東レ(株) 電子情報材料研究所 リサーチフェロー 博士(工学) 富川 真佐夫 氏
セミナー受講料
1名につき 55,000円(消費税抜、昼食・資料付)
〔1社2名以上同時申込の場合のみ1名につき50,000円〕
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