初心者向けセミナーです 【Live配信】分析におけるスペクトル解析の基本と応用テクニック

分光分析の実務で使える!
前処理・同定・解析の基礎知識と基本テクニック

本セミナーは、【Live配信】のみの開催に変更になりました。
※会場開催はございません。

XPS、FT-IR、TOF-SIMS…etc.

各種分光分析におけるスペクトル解析をまとめて解説!
基本的な考え方から前処理、同定や解析方法まで、実際の様々な事例を交えて詳説します

セミナー趣旨

 FTIRXPSを中心としたいわゆる分光分析は、材料やプロセスの解析・評価、トラブル解決において必要不可欠なものとなっている。開発当初は、スペクトルを得るだけでも長い時間と高度な技術を要した。しかし、近年の技術進歩で誰でも簡便にスペクトルを取得できる、場合によっては装置導入日に教科書に出ているようなきれいなスペクトルを得られることも少なくない。
 言うまでもなく、スペクトルは得られれば目的が達成できるわけではなく、解析して初めて必要な情報を得て問題解決、目的達成をすることができる。また、その解析に用いることができるスペクトルであるかということを判断することも重要である。しかし、装置の進歩だけでなく、コンピューターやソフトの進歩もあり、現在では解析も多くの部分が自動化、ブラックボックス化されている。そのため、間違った結論が導かれてしまっているケースが少なくない。
 本講では、スペクトル解析の基本的な考え方から、前処理、同定や定量から数学的アプローチなどの解析、実際の様々な事例や手法による分析例などを詳細に解説する。

受講対象・レベル

  • 企業等の分析部門、大学等の分析センター、公設試験センターの担当者、リーダー、等
  • 研究開発部門、研究機関の担当者、リーダー等
  • その他、技術部門全般

【受講に際しての注意事項】
大変申し訳ございませんが、講師とご同業(経営・人事研修・技術コンサルタント、またはこれに類する事業を手掛けている等)の方のご参加はお断り申し上げます。

習得できる知識

  • スペクトル解析の基礎から応用、実践
  • スペクトルの正しい解釈(定性・定量)とそのためのデータ処理
  • 良いスペクトルを得るコツ、ノウハウ
  • 潜在情報を引き出す応用解析法
  • データベースの利用

セミナープログラム

1.スペクトル解析の基本
 1.1 データの信頼性
 1.2 分析の基本フロー
 1.3 正確なデータを得るために
 1.4 AccuracyとPrecision
 1.5 信頼度要因を整理する
 1.6 横軸、縦軸の意味
 1.7 基本ピーク形状
 1.8 半値幅の持つ意味
 1.9 ピーク変化(位置、半値幅)の意味
 1.10 スペクトル解析の分類
 1.11 スペクトルから構造・状態へ
 1.12 ピーク? ノイズ?
 1.13 動的に全体を見る

2.スペクトルの前処理
 2.1 データ前処理
  2.1.1 スペクトル前処理の分類
  2.1.2 ベースライン補正
  2.1.3 スムージング
  2.1.4 補間
  2.1.5 微分
  2.1.6 対数化
  2.1.7 平均化
  2.1.8 ノーマライズ、規格化(レンジスケール)
  2.1.9 自動処理の注意点
  2.1.10 最も重要なこと
 2.2 解析的前処理
  2.2.1 大気成分(CO2、H2O)補正
  2.2.2 スペクトル補正
  2.2.3 スペクトル変換
  2.2.4 注意点

3.スペクトルの解析(同定・定性)
 3.1 同定と定性
 3.2 ピーク帰属
 3.3 複数ピークの併用
 3.4 スペクトルパターン
 3.5 ピーク帰属の裏ポイント
 3.6 スペクトルデータベース
 3.7 代表的検索アルゴリズム
 3.8 ヒットスコアの罠
 3.9 スペクトルサーチのコツ
 3.10 差スペクトル
 3.11 混合解析
 3.12 オープンライブラリ

4.スペクトルの解析(定量)
 4.1 ピーク高さと面積
 4.2 ベースラインの引き方
 4.3 ピーク分離
 4.4 ピーク分離における条件設定
 4.5 検量線法による定量
 4.6 定量値に対する影響要因
 4.7 限界の定義を理解する
 4.8 変動要因の軽減

5.スペクトルの解析(数学的アプローチによる物理意味の導出)
 5.1 相関解析
 5.2 相関解析の注意点
 5.3 多変量解析
 5.4 予測と要約
 5.5 多変量解析の応用
 5.6 本来のスペクトル解析

6.各種測定法の例
 6.1 角度変化法
 6.2 角度変化法の注意点
 6.3 マッピングと多変量解析(PCA等)
 6.4 マススペクトル

7.実例
 7.1 X線光電子分光法(XPS,ESCA)
  7.1.1 ワイドスキャン(サーベイスキャン)
  7.1.2 ナロースキャン(代表的な元素)
  7.1.3 元素同定
  7.1.4 化学状態の同定
  7.1.5 定量評価
  7.1.6 XPSにおけるベースラインの選択
  7.1.7 オージェピークの利用
  7.1.8 サテライトピークの利用
  7.1.9 価電子帯の利用
  7.1.10 角度変化測定による深さ方向分析
 7.2 フーリエ変換赤外分光法(FT-IR)
  7.2.1 赤外分光法(IR)の原理
  7.2.2 FT-IRの長所・短所
  7.2.3 測定法
  7.2.4 吸光度スペクトルと透過スペクトル
  7.2.5 主な吸収帯
  7.2.6 周辺環境の影響
  7.2.7 赤外分光の構造敏感性
  7.2.8 指紋領域の利用
  7.2.9 系統分析
  7.2.10 帰属の考え方
  7.2.11 異常分散によるスペクトルへの影響
  7.2.12 ATR適用の注意点と対策
  7.2.13 ピーク強度比法
  7.2.14 誤差要因
  7.2.15 配向図
  7.2.16 差スペクトルが上手くいかない?
  7.2.17 高度な構造解析
 7.3 ポリイミドの表面処理層の深さ方向分析
 7.4 ラマン分光法
  7.4.1 ラマン散乱
  7.4.2 ラマン散乱と赤外吸収
  7.4.3 レーザー波長と散乱強度
  7.4.4 ラマンスペクトル
  7.4.5 ラマンスペクトルの解析
  7.4.6 ラマンイメージング
 7.5 飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS)
  7.5.1 TOF-SIMSの概要
  7.5.2 TOFにおけるマススペクトル解析

8.仮説思考による研究開発と問題解決

9.まとめ・質疑

セミナー講師

ジャパン・リサーチ・ラボ 代表 博士(工学) 奥村 治樹 氏

セミナー受講料

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※3名様以上のお申込みの場合、1名あたり定価半額で追加受講できます。
※受講券、請求書は、代表者に郵送いたします。
※請求書および領収証は1名様ごとに発行可能です。
 (申込みフォームの通信欄に「請求書1名ごと発行」と記入ください。)
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※テレワーク応援キャンペーン(1名受講)【Live配信/WEBセミナー受講限定】
1名申込みの場合:35,200円 ( S&T会員受講料 33,440円 ) 
※1名様でLive配信/WEBセミナーを受講する場合、上記特別価格になります。
※備考欄に【テレワーク応援キャンペーン】とご記入のうえお申込みください。
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<セミナー受講特典コンサルティング>※ コンサルティング料は受講料とは別になります。

 セミナーに受講して名刺交換をさせて頂いた方への特典サービスとして、初回限定で限定特別料金にてコンサルティングをご利用いただけます。技術的な相談はもちろん、戦略相談、オンサイトセミナーなど、依頼条件を満たす限り原則として実施内容、方法に制限はありません。
 技術コンサルティングには興味があるが利用したことがないので、どのようなものか良くわからず正式依頼に踏み切れない、決裁を取るために一度ディスカッションしたいという方は、是非この機会に、JRLのコンサルティングを御体験ください。限定特典ではありますが、必ず満足のいただける内容でお応えします。

【依頼条件】
・初回1回のみ
・セミナー実施日より3カ月以内に依頼が成立
・費用:内容によらず定額の限定特別料金

受講について

【ZoomによるLive配信】
  ・本セミナーはビデオ会議ツール「Zoom」を使ったライブ配信セミナーとなります。
  ・お申込み受理のご連絡メールに接続テスト用のURLが記されております。
  「Zoom」のインストールができるか、接続できるか等をご確認下さい。
  ・後日、別途視聴用のURLをメールにてご連絡申し上げます。
  ・セミナー開催日時に、視聴サイトにログインしていただき、ご視聴ください。
  ・セミナー資料は事前にお申し込み時のご住所へ発送させて頂きます。
  ・開催まで4営業日を過ぎたお申込みの場合、セミナー資料の到着が、開講日に間に合わない可能性がありますこと、ご了承下さい。Zoom上ではスライド資料は表示されますので、セミナー視聴には差し支えございません。
  ・リアルタイムで講師へのご質問も可能です。
  ・タブレットやスマートフォンでも視聴できます。


※セミナーに申し込むにはものづくりドットコム会員登録が必要です

開催日時


10:30

受講料

49,500円(税込)/人

※本文中に提示された主催者の割引は申込後に適用されます

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開催場所

全国

主催者

キーワード

分析・環境化学

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